[发明专利]原子层沉积设备在审

专利信息
申请号: 201611043342.7 申请日: 2016-11-11
公开(公告)号: CN106978599A 公开(公告)日: 2017-07-25
发明(设计)人: 周友华;庄国胜 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: C23C16/455 分类号: C23C16/455;C23C16/52
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司32243 代理人: 顾伯兴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种原子层沉积设备,包括处理腔室、至少一个分隔和注入器。所述至少一个分隔安置于所述处理腔室中用于将所述处理腔室划分成多个区段。所述注入器包含安置于所述处理腔室中且被配置以将反应气流分别提供到所述多个区段中的每一个的多个喷嘴。本发明实施例还提供一种半导体工艺。
搜索关键词: 原子 沉积 设备
【主权项】:
一种原子层沉积设备,其特征在于,包括:处理腔室;至少一个分隔,其安置于所述处理腔室中用于将所述处理腔室划分成多个区段;以及注入器,其包括安置于所述处理腔室中且被配置以将反应气流分别提供到所述多个区段中的每一个的多个喷嘴。
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