[发明专利]一种非均匀光照条件下的芯片引脚提取方法

摘要

一种非均匀光照条件下的芯片引脚提取方法，本发明涉及非均匀光照条件下的芯片引脚提取方法。本发明的目的是为了解决现有非均匀光照条件下，传统的芯片引脚提取技术存在提取效果差、复杂度高、鲁棒性差的问题。具体过程为：一、得到原始灰度图像；二、采用动态阈值分割方法进行芯片引脚的粗提取，得到二值引脚图像；三、得到的经过连通域筛选后的二值引脚图像；四、对二值引脚图像中的每个有效连通域，求取其中心位置；计算每个相邻引脚的间距，将间距中的最小值作为引脚间距典型值；五、得到引脚局部二值图像；六、得到引脚掩模图像；七、将六中得到的引脚掩模图像与原始灰度图像进行与操作，完成芯片引脚的提取。本发明用于引脚提取领域。

主权项

一种非均匀光照条件下的芯片引脚提取方法，其特征在于：一种非均匀光照条件下的芯片引脚提取方法具体过程为：步骤一、对工业相机采集的工业元件图像进行灰度化处理，得到原始灰度图像；步骤二、对步骤一得到的原始灰度图像，采用动态阈值分割方法进行芯片引脚的粗提取，得到二值引脚图像；步骤三、对步骤二中得到的二值引脚图像进行连通域标记，并对已标记的连通域进行筛选，保留连通域中所含像素的个数大于预设阈值T的连通域，得到的经过连通域筛选后的二值引脚图像；步骤四、对步骤三得到的经过连通域筛选后的二值引脚图像中的每个有效连通域，求取其中心位置；计算每个相邻引脚的间距，将间距中的最小值作为引脚间距典型值△γ；步骤五、利用步骤四得到的引脚间距典型值△γ，在原始灰度图像上，对每个引脚中心周围半经为△γ/2的引脚邻域上采用中值Otsu算法，重新进行芯片引脚区域的分割，得到引脚局部二值图像；所述Otsu算法为最大类间方差算法；步骤六、对步骤五中得到的引脚局部二值图像进行形态学开运算和闭运算，以去除引脚局部二值图像中未处理的杂点和空洞，得到引脚掩模图像；步骤七、将步骤六中得到的引脚掩模图像与原始灰度图像进行与操作，完成芯片引脚的提取。