[发明专利]薄膜晶体管阵列基板的制造方法有效
申请号: | 201610814409.6 | 申请日: | 2016-09-08 |
公开(公告)号: | CN106972027B | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 林欣桦;施博理;高逸群;万昌峻;张炜炽;吴逸蔚 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77 |
代理公司: | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 | 代理人: | 汪飞亚 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法,包括:在通道层上形成包含铟和锌的金属氧化物的第一子层;形成包含金属的第二子层覆盖于所述第一子层上;形成包含铟和锌的金属氧化物的第三子层覆盖于所述第二子层上;所述第一子层、第二子层和第三子层蚀刻形成一凹槽贯穿所述第一子层、第二子层和第三子层,以形成通过凹槽得以间隔的源极与漏极;沿第三子层指向第一子层的方向,该凹槽的尺寸逐渐变小。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 阵列 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法,其包括:提供一基底;在所述基底上形成通道层;其特征在于:在通道层上形成第一子层,所述第一子层包含铟和锌的金属氧化物材料,所述第一子层中的铟原子个数占铟锌原子个数总量的比重与锌原子个数占铟锌原子个数总量的比重之比定义为第一铟锌比;形成第二子层覆盖于所述第一子层上,所述第二子层包含金属材料;形成第三子层覆盖于所述第二子层上,所述第三子层包含含有铟和锌的金属氧化物材料,所述第三子层中的铟原子个数占铟锌原子个数总量的比重与锌原子个数占铟锌原子个数总量的比重之比定义为第二铟锌比,;对所述第一子层、第二子层和第三子层进行蚀刻形成一凹槽贯穿所述第一子层、第二子层和第三子层,以形成通过凹槽得以间隔的源极与漏极;其中所述第二铟锌比小于所述第一铟锌比,沿第三子层指向第一子层的方向,该凹槽的尺寸逐渐变小。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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