[发明专利]一种测量大厚度比工件边蚀宽度的方法有效

专利信息
申请号: 201610795456.0 申请日: 2016-08-31
公开(公告)号: CN106225741B 公开(公告)日: 2019-02-22
发明(设计)人: 张祥林;刘钊;刘英智 申请(专利权)人: 北京星航机电装备有限公司
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 袁孜
地址: 100074 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测量大厚度比工件边蚀宽度的方法,属于照相检测技术领域,解决了解决X射线照相时测量边蚀宽度的准确性低的问题。该方法包括加工与制作标准试样,分别制作带卡槽的基板、厚板垫块、薄板试块,通过卡槽缺口制作大厚度比工件,形成厚板部分、搭接部分和薄板部分。通过一定的射线检测工艺进行拍片,采用底片数字化扫描仪将工业射线底片扫描为数字图像等步骤。可以对大厚度比工件的射线底片测量边蚀宽度的大小,方便地区分边蚀区域和非边蚀区域,从而判断边蚀严重程度,方法简单。
搜索关键词: 一种 测量 厚度 工件 宽度 方法
【主权项】:
1.一种测量大厚度比工件边蚀宽度的方法,其特征在于,该方法包括下述步骤:1)制作与实际大厚度比工件相同材料的标准试样,标准试样包括带宽度L卡槽的基板、厚板垫块、薄板试块,在厚板垫块上部放上基板,在基板卡槽缺口处搭接薄板试块,形成厚板部分、搭接部分和薄板部分以模拟实际大厚度比工件的厚板部分、搭接部分和薄板部分分别为搭接后厚度不相同的部分;2)采用与实际大厚度比工件射线照相检测相同工艺,采用胶片对标准试样进行射线照相形成标准试样的射线照相底片,在底片上分别测量厚板部分、搭接部分以及薄板部分的黑度值;3)将射线照相底片扫描为数字图像,再次测量转化后的数字图像中厚板部分、搭接部分和薄板部分的灰度值;4)建立底片黑度与图像灰度的映射关系,同时建立实际长度与像素尺寸的对应关系;5)在数字图像上平行于卡槽口方向划直线或矩形框,直线或矩形框位于搭接部位且直线或矩形框横跨厚板部分、搭接部分和薄板部分,得到线灰度分布曲线;6)根据底片黑度与图像灰度的映射关系,计算底片上厚板部分和薄板部分之间黑度值D=4.0的边界点对应的图像灰度值,在线灰度分布图上查找对应的图像像素点B,并查找到厚板部分和搭接部分之间的分界点像素点A;根据卡槽宽度L即搭接长度,与像素尺寸的对应关系计算AB之间的长度值LAB,边蚀宽度为L‑LAB对应的长度值。
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