[发明专利]具有ESD保护功能的LDMOS器件及其版图有效

专利信息
申请号: 201610507217.0 申请日: 2016-06-30
公开(公告)号: CN107564901B 公开(公告)日: 2020-03-13
发明(设计)人: 李宏伟;陈光;雷玮 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(天津)有限公司;中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/78
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 300385 天津市西青*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种具有ESD保护功能的LDMOS器件及其版图,本发明的LDMOS器件,通过在漏区的深N阱中增加一较浅的N阱注入区,在源区的深P阱中增加一较浅的P阱注入区,大大提高了LDMOS器件的保持电压和对应的保持电流,能更加有效避免闩锁效应发生,从而在LDMOS器件进入骤回状态前即可释放ESD电流,从而具有较高的静电放电能力;本发明的LDMOS器件版图,在其漏区版图层上方增加一层N阱注入区,在源区版图层上方增加一层P阱注入区,无需额外的掩膜版即可实现深P阱和深N阱以及N阱注入区、P阱注入区的离子注入,可与业界常用的CMOS BCD工艺实现工艺兼容。
搜索关键词: 具有 esd 保护 功能 ldmos 器件 及其 版图
【主权项】:
一种具有ESD保护功能的LDMOS器件,包括沿横向设置有第一深P阱和深N阱的P型衬底;所述第一深P阱表面沿横向设置有第一P+注入区和第一N+注入区,第一P+注入区和第一N+注入区通过第一隔离结构隔离开来,且所述第一N+注入区作为LDMOS器件的第一源区;所述深N阱表面设置有第二N+注入区,所述第二N+注入区作为LDMOS器件的漏区,与所述第一N+注入区通过第二隔离结构隔离开来,其特征在于,在所述第一深P阱中设有一比所述第一深P阱浅的第一P阱注入区,所述第一隔离结构和第一N+注入区位于所述第一P阱注入区中,在所述深N阱中设有一比所述深N阱浅的N阱注入区,所述第二隔离结构和第二N+注入区位于所述N阱注入区中,所述第一P阱注入区和N阱注入区之间的P型衬底上方覆盖有一第一多晶硅栅极,所述第一多晶硅栅极、第一N+注入区和第一P+注入区均接入一第一接口端,所述第二N+注入区接入一第二接口端。
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