[发明专利]一种晶圆级针对每个芯片DC参数的调节方法在审
| 申请号： | 201610340692.3 | 申请日： | 2016-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN106054065A | 公开（公告）日： | 2016-10-26 |
| 发明（设计）人： | 王帆 | 申请（专利权）人： | 西安紫光国芯半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 张倩 |
| 地址： | 710055 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种晶圆级针对每个芯片DC参数的调节方法，包括以下步骤：1)通过测试模式对每个芯片的可调节代码进行扫描，并和目标调节值比对，以找到每个芯片的目标调节代码；2)根据目标调节代码分组，将目标调节代码相同的分为一组；3)任意选择其中一组，给对应芯片一次性写入目标调节代码；4)在剩余组中选择任意一组；5)给对应芯片一次性写入目标代码；6)执行步骤4)直至选择到最后一组。本发明解决了现有的芯片的DC参数调节方式存在测试时间太长的技术问题，本发明将串连执行每个芯片目标代码写入的过程改为串并结合，进而达到缩短测试时间，节约测试成本的目标。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶圆级 针对 每个 芯片 dc 参数 调节 方法 | ||
【主权项】：
一种晶圆级针对每个芯片DC参数的调节方法，其特征在于，包括以下步骤：1)通过测试模式对每个芯片的可调节代码进行扫描，并和目标调节值比对，以找到每个芯片的目标调节代码；2)根据目标调节代码分组，将目标调节代码相同的分为一组；3)任意选择其中一组，给对应芯片一次性写入目标调节代码；4)在剩余组中选择任意一组；5)给对应芯片一次性写入目标代码；6)执行步骤4)直至选择到最后一组。
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