[发明专利]一种激光相位测距方法

摘要

本发明公开一种激光相位测距方法，通过分光镜将发射出的激光分为内光路激光和外光路激光；所述内外光路APD混频电路分别对所述内外光路激光进行混频处理，所述二阶带通滤波放大电路对混频处理后的内外光路激光分时进行信号放大滤波处理，所述AGC电路对信号放大滤波处理后的内外光路激光分别进行幅值放大处理，所述MCU对幅值放大处理后的内外光路激光的相位做差，根据所述内外光路相位差得到所述测距后的外光路激光对应的测量距离。本发明有益效果是实时消除不同的环境下造成的总相位误差，使测距的稳定性和精度得到提高；同时利用AGC电路和二阶带通滤波电路提高信号的幅值和信噪比，使相位差值的运算更准确。

主权项

一种激光相位测距方法，其特征在于：使用激光相位测距装置进行测距，所述激光相位测距装置包括：单片机MCU、激光发射控制电路、分光镜、内光路雪崩光电二极管APD混频电路、外光路APD混频电路、二阶带通滤波放大电路和自动增益控制AGC电路，所述MCU经所述激光发射控制电路与激光发射器电连接，所述分光镜倾斜设置在所述激光发射器的激光出口，所述内光路APD混频电路和所述外光路APD混频电路均与所述二阶带通滤波放大电路电连接，所述二阶带通滤波放大电路依次经所述AGC电路和所述MCU电连接，所述方法包括：步骤一、所述MCU通过所述激光发射控制电路控制所述激光发射器发射出激光并被所述分光镜分为内光路激光和外光路激光；步骤二、所述内光路APD混频电路接收所述内光路激光，对所述内光路激光进行混频处理，所述二阶带通滤波放大电路对混频处理后的内光路激光进行信号放大滤波处理，所述AGC电路对信号放大滤波处理后的内光路激光进行固定增益的幅值放大处理，所述MCU对幅值放大处理后的内光路激光进行模数转换处理，得到标准内光路激光；所述外光路APD混频电路接收所述外光路激光，对所述外光路激光进行混频处理；所述二阶带通滤波放大电路对混频处理后的外光路激光进行信号放大滤波处理，所述AGC电路对信号放大滤波处理后的外光路激光进行幅值放大处理，所述MCU对幅值放大处理后的外光路激光进行模数转换处理，得到测距后的外光路激光；所述二阶带通滤波放大电路对混频后的内光路激光进行放大滤波处理的时刻与所述二阶带通滤波放大电路对混频后的外光路激光进行放大滤波处理的时刻不同，以对内外光路激光进行分时处理；步骤三、所述MCU将所述标准内光路激光的相位与所述测距后的外光路激光的相位做差，得到内外光路相位差；步骤四、根据所述内外光路相位差得到所述测距后的外光路激光对应的所要得到的测量距离。