[发明专利]CPU cache存储器的自适应测试方法及装置

摘要

本发明提供一种CPU cache存储器的自适应测试方法及装置，测试前先设置好测试目标频率对应的频率配置；开始测试后，通过jtag接口灌入bist启动命令；将jtag命令进行协议解析后变为直接控制信号；通过所述直接控制信号进行带EMA扫描的bist测试流程，如果在bist测试流程中找到了最佳的EMA,则判断为测试通过,同时内部的EEPROM会存储好该频率下最佳的EMA配置值以供芯片进入正常工作模式时使用；否则判断为测试失败，将芯片归类为不符合要求的芯片。通过测试获得芯片的最佳的EMA值，以供芯片正常工作时配置使用，使芯片能工作在自己特定最佳的EMA值下,得到最佳的存储器性能和稳定性的平衡点。

主权项

1.一种CPU cache存储器的自适应测试方法，其特征在于：测试前先设置好测试目标频率对应的频率配置；开始测试后，通过jtag接口灌入bist启动命令；将jtag命令进行协议解析后变为直接控制信号；通过所述直接控制信号进行带EMA扫描的bist测试流程，如果在bist测试流程中找到了最佳的EMA,则判断为测试通过,同时内部的EEPROM会存储好该频率下最佳的EMA配置值以供芯片进入正常工作模式时使用；否则判断为测试失败，将芯片归类为不符合要求的芯片；所述bist测试流程包括依次进行的写操作扫描测试、读操作扫描测试及读写混合扫描测试；所述写操作扫描测试具体为：11)将EMA配置为111，将EMAW配置为11，将EMAS配置为1，将bist算法选择检测写操作的算法；12)对待测存储器进行专项检测写动作的激励灌入,输出待测存储器的响应结果；13)将待测存储器的响应结果和期望结果进行对比，看待测存储器在专项检测写动作的激励下得到的响应是否和预期一致,如果一致则输出检测通过的结果,否则输出测试错误并且写操作错误的结果；14)如果测试错误,表明之前一次的写相关配置已经是最高配置,则将EMAW值加1写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAW值供芯片正常工作时使用,然后开始转到读操作扫描测试；如果测试通过,EMAW已经配置到0仍然通过,则将EMAW值0写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAW值，然后转入读操作扫描测试；否则将EMAW值降低1，回到步骤12)；所述读操作扫描测试具体为：21)将bist算法改为选择检测读动作的算法，EMAW值不再变化,先将EMAS配置为0进行一轮测试；22)对待测存储器进行专项检测读动作的激励灌入,输出待测存储器的响应结果；23)将待测存储器的响应结果和期望结果进行对比,看待测存储器在专项检测读动作的激励下得到的响应是否和预期一致,如果一致则输出检测通过的结果,否则输出测试错误并且读操作错误的结果；24)如果测试错误,表明之前一次的读相关配置已经是最高配置,则将EMAS值1写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAS值,如果测试通过则将EMAS值0写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAS值；然后开始读写混合扫描测试；所述读写混合扫描测试具体为：31)将bist算法改为选择检测读写混合动作的算法,EMAW和EMAS值不再变化,将EMA配置减1开始测试；32)对待测存储器进行检测读写动作的激励灌入,然后输出待测存储器的响应结果；33)将待测存储器的响应结果和期望结果进行对比,看待测存储器在检测读写动作的激励下得到的响应是否和预期一致,如果一致则输出检测通过的结果,否则输出测试错误结果；34)如果测试错误,表明之前一次的读写相关配置已经是最高配置,则将测试错误的EMA值加1写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMA值；或者EMA已经配置到0仍然通过,则将EMA值0写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMA值；就此EMA最佳配置测试结束。