[发明专利]光掩模的制造方法以及显示装置的制造方法有效
申请号: | 201510926381.0 | 申请日: | 2015-12-14 |
公开(公告)号: | CN105717738B | 公开(公告)日: | 2019-08-06 |
发明(设计)人: | 吉川裕 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/80 | 分类号: | G03F1/80;G03F1/82 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;于英慧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 光掩模的制造方法以及显示装置的制造方法,光掩模的制造方法能够对通过一次成膜而形成的光学膜准确地实施期望量的减膜,显示装置的制造方法使用了该光掩模。包含以下工序:准备在透明基板上涂覆光学膜和第1抗蚀剂膜而得到的光掩模基板的工序;形成第1抗蚀剂图案的工序;蚀刻去除光学膜的第1构图工序;剥离第1抗蚀剂图案并涂覆第2抗蚀剂膜的工序;形成第2抗蚀剂图案的工序;对光学膜进行蚀刻减膜的第2构图工序;以及剥离第2抗蚀剂图案的工序,以第2抗蚀剂图案中的透明基板的露出部分成为比第1抗蚀剂图案中的透明基板的露出部分小规定量的尺寸的方式,对第2描绘图案实施了尺寸减小。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 制造 方法 以及 显示装置 | ||
【主权项】:
1.一种光掩模的制造方法,包含以下工序:通过对在透明基板上形成有光学膜的光掩模基板的所述光学膜进行构图,形成转印用图案,所述光掩模的制造方法的特征在于,包含以下工序:准备光掩模基板的工序,该光掩模基板是在所述透明基板上形成光学膜,并在该光学膜上涂覆第1抗蚀剂膜而得到的;第1抗蚀剂图案形成工序,对所述第1抗蚀剂膜描绘第1描绘图案并进行显影;第1构图工序,将所述第1抗蚀剂图案作为掩模来蚀刻去除所述光学膜,使所述透明基板的表面局部露出;剥离所述第1抗蚀剂图案,并重新涂覆第2抗蚀剂膜的工序;第2抗蚀剂图案形成工序,对所述第2抗蚀剂膜描绘第2描绘图案并进行显影,分别使所述透明基板的表面的一部分和所述光学膜的表面的一部分露出;第2构图工序,将所述第2抗蚀剂图案作为掩模,对所述光学膜进行蚀刻减膜;以及剥离所述第2抗蚀剂图案的工序,以所述第2抗蚀剂图案中的所述透明基板的露出部分成为比所述第1抗蚀剂图案中的所述透明基板的露出部分小规定量的尺寸的方式,对所述第2描绘图案实施了尺寸减小。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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