[发明专利]一种阵列基板及其制作方法、测试方法在审
| 申请号： | 201510341755.2 | 申请日： | 2015-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN104880877A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | 辛燕霞;杨玉清;杨小飞 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种阵列基板及其制作方法、测试方法，涉及显示技术领域，用于避免信号测试走线将静电引入显示区域内，从而避免对显示区域内的元件造成危害。阵列基板包括多条信号测试走线，信号测试走线包括异层设置且相互绝缘的本体部和检测部；其中，本体部的一端与待测元件电连接、另一端设有位于外围区域内的第一焊盘；检测部的一端设有第二焊盘、另一端设有暴露在外围区域外的测试电极；在同一信号测试走线中，第一焊盘与第二焊盘在同一平面上的投影具有交叠区域。阵列基板的制作方法用于制作上述阵列基板。阵列基板的测试方法用于测试上述阵列基板。本发明提供的阵列基板及其制作方法、测试方法用于液晶显示装置的生产及测试中。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 及其 制作方法 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种阵列基板，包括显示区域和外围区域，在所述显示区域设有待测元件，在所述外围区域设有多条信号测试走线，其特征在于，所述信号测试走线包括异层设置且相互绝缘的本体部和检测部；其中，所述本体部的一端与所述待测元件电连接、另一端设有位于所述外围区域内的第一焊盘；所述检测部的一端设有第二焊盘、另一端设有暴露在所述外围区域外的测试电极；在同一所述信号测试走线中，所述第一焊盘与所述第二焊盘在同一平面上的投影具有交叠区域。
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