[发明专利]一种阵列基板及其制作方法、测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板及其制作方法、测试方法。

背景技术

液晶显示装置因具有功耗低、无辐射等优点，现已占据了平面显示领域的主导地位。液晶显示装置通常包括液晶面板，液晶面板由阵列基板、彩膜基板以及夹持在两者之间的液晶层组成。

在液晶显示装置的开发技术反馈、产品评价分析等情况下，经常需要对装配完毕的阵列基板中显示区域内的待测元件进行测试。因此，现有的阵列基板中通常在外围区域预设信号测试走线，信号测试走线的一端与显示区域内的待测元件电连接，另一端设有测试电极，在需要对待测元件进行测试时，将测试电极与检测设备电连接，即可通过检测设备对显示区域内的待测元件进行测试。

然而，为了能够在不破坏阵列基板的前提下将检测设备连接至测试电极，信号测试走线上的测试电极需暴露在阵列基板外，而信号测试走线又与显示区域内的待测元件电连接。因此，在现有的阵列基板中，信号测试走线极易将阵列基板外的静电引入显示区域内，对显示区域内的待测元件及其他元件造成危害。

发明内容

本发明的目的在于提供一种阵列基板及其制作方法、测试方法，用于避免信号测试走线将阵列基板外的静电引入显示区域内，从而避免对显示区域内的待测元件及其他元件造成危害。

为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

第一方面，本发明提供了一种阵列基板，包括显示区域和外围区域，在所述显示区域设有待测元件，在所述外围区域设有信号测试走线，所述信号测试走线包括异层设置且相互绝缘的本体部和检测部；其中，

所述本体部的一端与所述待测元件电连接、另一端设有位于所述外围区域内的第一焊盘；所述检测部的一端设有第二焊盘、另一端设有暴露在所述外围区域外的测试电极；在同一所述信号测试走线中，所述第一焊盘与所述第二焊盘在同一平面上的投影具有交叠区域。

本发明提供的阵列基板中，信号测试走线包括异层设置且相互绝缘的本体部和检测部，其中，与待测元件直接电连接的本体部埋设在阵列基板中外围区域内，该本体部与外界绝缘，以防止静电从外界进入显示区域内，而检测部与阵列基板中显示区域内的元件绝缘，即使外界的静电通过检测部上的测试电极进入检测部，也能够避免该静电继续传导至显示区域内的元件，从而避免对显示区域内的元件造成危害。在需要对显示区域内的元件进行测试时，将用于测试待该测元件的信号测试走线中的本体部上的第一焊盘和检测部上的第二焊盘熔接，使得该信号测试走线导通，此时只需将检测设备连接至该信号测试走线中检测部上的测试电极，即可通过该信号测试走线对待测元件进行测试。因此，与现有技术中信号测试走线上的测试电极长期暴露在阵列基板外相比，在本发明提供的阵列基板中，信号测试走线中与待测元件直接电连接的本体部埋设在外围区域内，从而避免信号测试走线将静电引入显示区域内，进而避免对显示区域内的待测元件及其他元件造成危害。

第二方面，本发明还提供了一种上述技术方案所提供的阵列基板的制作方法，所述阵列基板包括显示区域和外围区域，在所述显示区域设有待测元件，在所述外围区域设有信号测试走线，所述信号测试走线包括本体部和检测部；所述阵列基板的制作方法包括：

在所述外围区域形成所述信号测试走线的所述本体部，所述本体部的一端与所述待测元件电连接，另一端设有位于所述外围区域内的第一焊盘；

在所述本体部的异层形成所述信号测试走线的所述检测部，所述本体部与所述检测部相互绝缘，所述检测部的一端设有第二焊盘，另一端设有暴露在所述外围区域外的测试电极；其中，在同一信号测试走线中，所述第一焊盘与所述第二焊盘在同一平面上的投影具有交叠区域。

相对于现有技术，本发明提供的阵列基板的制作方法具有的优势与上述阵列基板相对于现有技术所具有的优势相同，在此不再赘述。

第三方面，本发明还提供了一种上述技术方案所提供的阵列基板的测试方法，所述阵列基板的测试方法包括：

将用于测试待测元件的信号测试走线中的本体部上的第一焊盘和检测部上的第二焊盘熔接；

将检测设备连接至所述信号测试走线的检测部上的测试电极，通过所述检测设备对所述待测元件进行测试。

相对于现有技术，本发明提供的阵列基板的测试方法具有的优势与上述阵列基板相对于现有技术所具有的优势相同，在此不再赘述。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：