[实用新型]叠层厚度测量装置有效

专利信息
申请号: 201420194603.5 申请日: 2014-04-21
公开(公告)号: CN203824527U 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 窦琴;韩欢庆;陈文智;张淑兰;张志英;刘囡楠;张涛 申请(专利权)人: 安泰科技股份有限公司;安泰南瑞非晶科技有限责任公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 代理人: 刘春成;温泉
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种叠层厚度测量装置,应用于冶金行业中金属叠层的叠片系数测量设备领域。所述叠层厚度测量装置包括:具有支架的测量台,所述支架位于所述测量台的台面上;夹紧机构;具有上压面和下压面的压力传感器;位于所述测量台台面上的第一驱动机构,与所述夹紧机构连接;固定于所述支架上的第二驱动机构,与所述上压面连接;以及固定于所述支架上的测距仪,位于所述上压面上方,用于测量叠层式样的叠层厚度。本实用新型通过上述技术方案提高了测量效率,降低了劳动强度,同时提高了测量结果的准确度。
搜索关键词: 厚度 测量 装置
【主权项】:
一种叠层厚度测量装置,其特征在于,所述叠层厚度测量装置包括:具有支架的测量台,所述支架位于所述测量台的台面上;夹紧机构,用于对水平放置的待测量的叠层式样的一端部进行上下夹紧以使所述叠层式样的另一端部敞露在所述夹紧机构外;具有上压面和下压面的压力传感器,所述下压面固定于所述测量台的台面上,且位于所述夹紧机构和所述支架之间,所述上压面与所述下压面在竖直方向上相对设置,且所述上压面与所述下压面之间留有间隔;位于所述测量台台面上的第一驱动机构,与所述夹紧机构连接,用于驱动所述夹紧机构做水平运动以带动所述叠层式样的另一端部在所述上压面与所述下压面之间的间隔内做水平运动;固定于所述支架上的第二驱动机构,与所述上压面连接,用于驱动所述上压面做竖直运动,以松开或压紧位于所述上压面和所述下压面之间的所述叠层式样;以及固定于所述支架上的测距仪,位于所述上压面上方,用于测量所述叠层式样的叠层厚度。
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