[发明专利]一种非易失性存储器的擦除方法在审
| 申请号： | 201410535686.4 | 申请日： | 2014-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN105489244A | 公开（公告）日： | 2016-04-13 |
| 发明（设计）人： | 胡洪;洪杰;张建军 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/14 | 分类号： | G11C16/14 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬;邓猛烈 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非易失性存储器的擦除方法，所述方法包括：S1依次判断存储块中每一个扇区是否通过擦除验证，若当前扇区通过擦除验证，则对通过擦除验证的当前扇区进行标记，对当前扇区的下一个扇区进行擦除验证；若当前扇区没有通过擦除验证，则对存储块中除通过擦除验证以外且包括当前扇区在内的剩余扇区进行擦除操作，S2对擦除操作后的剩余扇区过擦除验证，对没有通过过擦除验证的存储单元进行过擦除编程。本发明能够防止通过擦除验证的扇区发生过擦除，且随着擦除次数的增加，存储块中通过擦除验证的扇区的数目逐渐增加，需要进行擦除操作的剩余扇区的数目越来越少，节省了过擦除编程的时间，提高了非易失性存储器的擦除速度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非易失性存储器 擦除 方法 | ||
【主权项】：
一种非易失性存储器的擦除方法，所述非易失性存储器包括多个存储块，每一个存储块包含多个扇区，每一个扇区包含多个存储单元，其特征在于，所述方法包括：S1依次判断存储块中每一个扇区是否通过擦除验证，若当前扇区通过擦除验证，则对通过擦除验证的当前扇区进行标记，对当前扇区的下一个扇区进行擦除验证；若当前扇区没有通过擦除验证，则对存储块中除通过擦除验证以外且包括当前扇区在内的剩余扇区进行擦除操作；S2对擦除操作后的剩余扇区中的存储单元进行过擦除验证，对没有通过过擦除验证的存储单元进行过擦除编程。
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