[发明专利]存储器的数据校验方法在审
| 申请号： | 201410425717.0 | 申请日： | 2014-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN104269190A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 顾靖;张永福 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器的数据校验方法，包括：对目标存储区域存储的数据进行首次错误检查和纠正；若所述首次错误检查和纠正发现可纠正的错误，输出原始数据和已进行纠错的标识信号，并对所述目标存储区域进行擦除操作；将所述原始数据和所述原始数据对应的校验数据重新写入所述目标存储区域；对所述目标存储区域存储的数据进行再次错误检查和纠正；若所述再次错误检查和纠正发现可纠正的错误，输出原始数据和已进行纠错的标识信号。本发明提供的存储器的数据校验方法能够提高存储器的数据的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 数据 校验 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器的数据校验方法，其特征在于，包括：对目标存储区域存储的数据进行首次错误检查和纠正；若所述首次错误检查和纠正发现可纠正的错误，输出原始数据和已进行纠错的标识信号，并对所述目标存储区域进行擦除操作；将所述原始数据和所述原始数据对应的校验数据重新写入所述目标存储区域；对所述目标存储区域存储的数据进行再次错误检查和纠正；若所述再次错误检查和纠正发现可纠正的错误，输出原始数据和已进行纠错的标识信号。
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