[发明专利]用于光刻的高生产量和小占位面积扫描曝光的系统和方法有效
| 申请号: | 201410305880.3 | 申请日: | 2014-06-30 |
| 公开(公告)号: | CN104460236B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
| 发明(设计)人: | 林本坚;林世杰;许照荣;王文娟 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
| 代理公司: | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人: | 章社杲,孙征 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明提供用于光刻的高生产量和小占位面积扫描曝光的系统和方法。一种光刻系统,其包括辐射源和曝光工具,曝光工具包括在第一方向上密集地封装的多个曝光柱。每个曝光柱都包括被配置成经过辐射源的曝光区域。该系统还包括晶圆载体,被配置成固定并且沿着垂直于第一方向的第二方向移动一个或多个晶圆,使得一个或多个晶圆通过曝光工具曝光,以沿着第二方向形成图案。一个或多个晶圆覆盖有光刻胶层并且在晶圆载体上以第二方向对准。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 光刻 生产量 占位 面积 扫描 曝光 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种光刻系统,包括:辐射源;曝光工具,包括在第一方向上封装的多个曝光柱,每个曝光柱都包括被配置成经过所述辐射源的曝光区域;以及晶圆载体,被配置成固定并且沿着垂直于所述第一方向的第二方向移动一个或多个晶圆,使得所述一个或多个晶圆通过所述曝光工具曝光,以沿着所述第二方向形成图案,所述一个或多个晶圆覆盖有光刻胶层,并且在所述晶圆载体上以所述第二方向对准;其中,所述多个曝光柱沿着所述第二方向封装为多于一行;所述曝光柱的两个邻近行沿着所述第一方向移动的距离等于所述曝光柱的半径,所述两个邻近行形成单元柱组件(UCA);沿着所述第二方向封装多个单元柱组件,以及两个邻近单元柱组件沿着所述第一方向移动的距离小于所述曝光柱的所述半径。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410305880.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:带编码光罩子版制造方法
- 下一篇:调焦调平光斑水平位置的测量方法





