[发明专利]一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示装置无效
申请号: | 201410032607.8 | 申请日: | 2014-01-23 |
公开(公告)号: | CN103794651A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 李正亮;刘震;丁录科;张斌;曹占锋;惠官宝 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示装置,用以提高薄膜晶体管电极和与之相连的膜层之间的密接性,同时有效的阻止薄膜晶体管电极中的原子扩散到与之相连的膜层中,提高薄膜晶体管的可靠性,降低生产成本。所述薄膜晶体管,包括:栅极、源极和漏极,其中所述薄膜晶体管还包括缓冲层,所述缓冲层位于所述栅极、源极和漏极中的至少一个的一侧或两侧,其中,所述缓冲层与该缓冲层接触的所述栅极、源极和/或漏极,是采用相同刻蚀液刻蚀得到的。 | ||
搜索关键词: | 一种 薄膜晶体管 及其 制备 方法 阵列 显示装置 | ||
【主权项】:
一种薄膜晶体管,包括:栅极、源极和漏极,其特征在于,所述薄膜晶体管还包括缓冲层,所述缓冲层位于所述栅极、源极和漏极中的至少一个的一侧或两侧,其中,所述缓冲层与该缓冲层接触的所述栅极、源极和/或漏极,是采用相同刻蚀液刻蚀得到的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410032607.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种柔性背板以及光伏组件
- 下一篇:半导体器件
- 同类专利
- 专利分类