[发明专利]厚度测量装置及厚度测量方法有效

专利信息
申请号: 201380046991.0 申请日: 2013-09-04
公开(公告)号: CN104619264B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: D·克雷坦 申请(专利权)人: 古野电气株式会社
主分类号: A61B8/08 分类号: A61B8/08
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 高迪
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 课题为:提供一种即使在被测量体的表面和内面之间存在很多空孔或无用回波很多的环境中,也能够利用超声波以良好的精度测量厚度的厚度测量装置。解决手段为:皮质骨厚度测量装置(1)具备:振子(24)、接收波形存储部(50)、回波波形合成部(51)、内面聚焦波形取得部(52)和厚度算出部(53)。振子(24)被多个排列配置,各自能够收发超声波。回波波形合成部(51)一边扫描超声波波束的聚焦位置,一边合成接收波形存储部(50)中事先存储的各个振子(24)的接收波形,从而取得对应该超声波波束的回波波形。对于得到的回波波形由内面聚焦波形取得部(52)评价的结果若被判定为波束在皮质骨(10)的内面良好地聚焦,则厚度算出部(53)基于该回波波形,算出皮质骨(10)的厚度。
搜索关键词: 厚度 测量 装置 测量方法
【主权项】:
一种厚度测量装置,其特征在于,具备:多个波收发部,被排列配置,各自能够向被测量体发送超声波并且能够取得与该超声波对应的回波信号;接收波形存储部,在每次由各个所述波收发部发送超声波时,取得全部的所述波收发部的接收波形并存储;回波波形合成部,一边扫描超声波波束的聚焦位置,一边合成所述接收波形存储部中存储的各个波收发部的接收波形,从而取得与该超声波波束对应的回波波形;内面聚焦波形取得部,针对由所述回波波形合成部得到的回波波形,分别评价波束是否在所述被测量体的内面良好地聚焦,从而取得波束在所述被测量体的内面良好地聚焦的回波波形;以及厚度算出部,基于由所述内面聚焦波形取得部取得的回波波形,算出所述被测量体的厚度。
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