[实用新型]一种SRAM芯片单粒子闩锁测试机

摘要

本实用新型公开了一种SRAM芯片单粒子闩锁测试机，其用于检测若干个SRAM芯片的闩锁，若干个SRAM芯片呈n×m矩阵式排列，n、m均为正整数。SRAM芯片单粒子闩锁测试机包括MCU、模拟电路选择器、ADC转换器、n+m个电阻。每个SRAM芯片的VCC端口作为列线，每个SRAM芯片的GND端口作为行线，位于相同列线上的VCC端口均一起连接再经由一个电阻连接至电源VCC，n个列线上相应具有n个电阻，位于相同行线上的GND端口均一起连接再经由另一个电阻连接至地GND，m个行线上相应具有m个电阻。MCU通过控制模拟电路选择器选择第i行以及第j列的电流信号至ADC转换器，MCU接收ADC转换后的电流信号，根据电流大小是否超过某个阈值判断第i行，第j列的SRAM芯片是否发生闩锁。

主权项

一种SRAM芯片单粒子闩锁测试机，其特征在于：其用于检测若干个SRAM芯片的闩锁，该若干个SRAM芯片呈n×m矩阵式排列，n、m均为正整数，该SRAM芯片单粒子闩锁测试机包括MCU、模拟电路选择器、ADC转换器、n+m个电阻，每个SRAM芯片的VCC端口作为列线，每个SRAM芯片的GND端口作为行线，位于相同列线上的VCC端口均电性连接在一起且再经由一个电阻连接至电源VCC，n个列线上相应具有n个电阻以监控每个VCC端口的电流，位于相同行线上的GND端口均电性连接在一起且再经由另一个电阻连接至地GND，m个行线上相应具有m个电阻以监控每个GND端口的电流，该ADC转换器检测n+m个电阻的电流信号以转换为n+m个数字信号，该MCU通过控制该模拟电路选择器选择第i行以及第j列的电流信号至ADC转换器，该MCU接收ADC转换后的电流信号，根据电流大小是否超过某个阈值判断第i行，第j列的SRAM芯片是否发生闩锁。