[发明专利]静电感应晶体管的制造方法以及静电感应晶体管有效
申请号: | 201310724101.9 | 申请日: | 2013-12-25 |
公开(公告)号: | CN103745927B | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 魏星;陈达;薛忠营;狄增峰;方子韦 | 申请(专利权)人: | 上海新傲科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L29/772 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙)31218 | 代理人: | 孙佳胤,翟羽 |
地址: | 201821 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种静电感应晶体管的制造方法以及静电感应晶体管。所述方法包括如下步骤:提供导电类型为N型的硅衬底;在所述硅衬底的一背面形成磷掺杂层;在所述硅衬底的一正面形成导电类型为P型的栅墙和栅条;采用一键合衬底与所述硅衬底的正面键合,所述键合衬底的导电类型为N型;在所述键合衬底中形成通孔,以暴露出所述栅墙。本发明的优点在于,采用键合的方式形成覆盖栅墙和栅条的N型覆盖层,这可以使覆盖层的掺杂浓度得到精确控制,对于提高静电感应晶体管的电学性能有重要意义;并且硅衬底在与所述覆盖层相对的另一表面形成磷掺杂层,该层用以吸收制造过程中在硅衬底中引入的杂质,亦可以提高静电感应晶体管的电学性能。 | ||
搜索关键词: | 静电感应 晶体管 制造 方法 以及 | ||
【主权项】:
一种静电感应晶体管的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:提供导电类型为N型的硅衬底;在所述硅衬底的一背面形成磷掺杂层,用于形成欧姆接触层,所述磷掺杂层的作用在于能够吸收后续工艺中硅衬底中的杂质,保证正面的反型掺杂和微量杂质的浓度可以精确控制;在所述硅衬底的一正面形成导电类型为P型的栅墙和栅条;采用一键合衬底与所述硅衬底的正面键合,所述键合衬底的导电类型为N型;在所述键合衬底中形成通孔,以暴露出所述栅墙用于制作引出电极;所述形成磷掺杂层的步骤进一步包括:同时在所述硅衬底的正面形成第一覆盖层,背面形成第二覆盖层;去除背面的所述第二覆盖层;在背面形成磷掺杂层,正面保留的第一覆盖层继续用作后续形成栅墙和栅条的掺杂阻挡层;所述形成栅墙和栅条的步骤进一步包括:图形化所述第一覆盖层;以所述第一覆盖层为阻挡层,在硅衬底中形成导电类型为P型的栅墙和栅条;去除所述第一覆盖层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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