[发明专利]静电感应晶体管的制造方法以及静电感应晶体管有效

专利信息
申请号: 201310724101.9 申请日: 2013-12-25
公开(公告)号: CN103745927B 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 魏星;陈达;薛忠营;狄增峰;方子韦 申请(专利权)人: 上海新傲科技股份有限公司
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335;H01L29/772
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙)31218 代理人: 孙佳胤,翟羽
地址: 201821 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种静电感应晶体管的制造方法以及静电感应晶体管。所述方法包括如下步骤:提供导电类型为N型的硅衬底;在所述硅衬底的一背面形成磷掺杂层;在所述硅衬底的一正面形成导电类型为P型的栅墙和栅条;采用一键合衬底与所述硅衬底的正面键合,所述键合衬底的导电类型为N型;在所述键合衬底中形成通孔,以暴露出所述栅墙。本发明的优点在于,采用键合的方式形成覆盖栅墙和栅条的N型覆盖层,这可以使覆盖层的掺杂浓度得到精确控制,对于提高静电感应晶体管的电学性能有重要意义;并且硅衬底在与所述覆盖层相对的另一表面形成磷掺杂层,该层用以吸收制造过程中在硅衬底中引入的杂质,亦可以提高静电感应晶体管的电学性能。
搜索关键词: 静电感应 晶体管 制造 方法 以及
【主权项】:
一种静电感应晶体管的制造方法,其特征在于,包括如下步骤:提供导电类型为N型的硅衬底;在所述硅衬底的一背面形成磷掺杂层,用于形成欧姆接触层,所述磷掺杂层的作用在于能够吸收后续工艺中硅衬底中的杂质,保证正面的反型掺杂和微量杂质的浓度可以精确控制;在所述硅衬底的一正面形成导电类型为P型的栅墙和栅条;采用一键合衬底与所述硅衬底的正面键合,所述键合衬底的导电类型为N型;在所述键合衬底中形成通孔,以暴露出所述栅墙用于制作引出电极;所述形成磷掺杂层的步骤进一步包括:同时在所述硅衬底的正面形成第一覆盖层,背面形成第二覆盖层;去除背面的所述第二覆盖层;在背面形成磷掺杂层,正面保留的第一覆盖层继续用作后续形成栅墙和栅条的掺杂阻挡层;所述形成栅墙和栅条的步骤进一步包括:图形化所述第一覆盖层;以所述第一覆盖层为阻挡层,在硅衬底中形成导电类型为P型的栅墙和栅条;去除所述第一覆盖层。
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