[发明专利]一种共聚焦测量涂镀层厚度的方法无效
申请号: | 201310405327.2 | 申请日: | 2013-09-06 |
公开(公告)号: | CN103453839A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
发明(设计)人: | 杨洪刚;李锋;吕家舜;周芳;徐承明;王永明 | 申请(专利权)人: | 鞍钢股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06;G01N21/84 |
代理公司: | 鞍山华惠专利事务所 21213 | 代理人: | 赵长芳 |
地址: | 114021 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明提供一种共聚焦测量涂镀层厚度的方法,采用机械手段在涂镀层表面钻出圆锥型小孔,利用激光共聚焦显微镜三维成像技术对剖面为V型孔进行成像处理,采用共聚焦高度差测量功能测量V型孔内涂镀层与基板结合部和涂镀层外表面之间的高度差,从而分别确定彩涂涂层面漆厚度、热浸镀层厚度及彩涂涂层底漆厚度。本发明勿须考虑圆锥度等问题,可真实再现涂镀层厚度,极大提高测量精度,并可测量微区涂镀层厚度,考查涂镀层的均匀性。根据涂镀层与基板的自身特点略加改变,本发明方法可适用于电镀层、PVD镀层、CVD镀层等多种类型涂镀层厚度测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 聚焦 测量 镀层 厚度 方法 | ||
【主权项】:
一种共聚焦测量涂镀层厚度的方法,其特征在于,采用机械手段在涂镀层表面钻出圆锥型小孔,利用激光共聚焦显微镜三维成像技术对剖面为V型孔进行成像处理,采用共聚焦高度差测量功能测量V型孔内涂镀层与基板结合部和涂镀层外表面之间的高度差,从而确定涂镀层厚度;其具体操作步骤为:(1)、彩涂涂层面漆厚度测量:a、利用V型钻头在钢板涂层表面钻出锥度在15°~60°的圆锥型小孔,孔深延伸到基板内部;b、将V型孔放在激光共聚焦显微镜载物台上,在可见光模式下进行聚焦,使图像清晰地出现在图像显示区域里,将可见光模式切换为激光模式;c、在激光模式下对V型孔区域进行逐层扫描,得到V孔区的二维形貌图;d、对二维形貌图进行滤波处理和噪音消除处理,将二维形貌图切换为三维形貌,得到V型孔区域的三维实物形貌;e、激光共聚焦测量:涂层面漆厚度测量:选取V型孔内涂层底部与基板结合部的测量点,测量该点与涂层外表面之间的高度差,即为待测涂层的厚度; (2)、热浸镀层层厚测量:a、V型孔腐蚀处理;采用0.5~2vol%硝酸酒精对V型孔区域进行腐蚀处理,用酒精将V型孔区域清洗干净,使镀层和基板在共聚焦显微镜下呈现不同色差或形貌;b、将V型孔放在激光共聚焦显微镜载物台上,在可见光模式下进行聚焦,使图像清晰地出现在图像显示区域里,将可见光模式切换为激光模式;c、在激光模式下对V型孔区域进行逐层扫描,得到V孔区的二维形貌图;d、对二维形貌图进行滤波处理和噪音消除处理,将二维形貌图切换为三维形貌图,得到V型孔区域的三维实物形貌;e、激光共聚焦测量:镀层厚度测量:选取V型孔内镀层底部与基板结合部的测量点,测量该点与镀层外表面之间的高度差,即为待测镀层的厚度;(3)彩涂涂层底漆厚度测量:a、将V型孔放在激光共聚焦显微镜的载物台上,在可见光模式下进行聚焦,使图像清晰地出现在图像显示区域里,将可见光模式切换为激光模式;b、在激光模式下对V型孔区域进行逐层扫描,得到V孔区的二维形貌图;c、对二维形貌图进行滤波处理和噪音消除处理,将二维形貌图切换为三维形貌图,得到V型孔区域的三维实物形貌;d、激光共聚焦测量:彩涂涂层底漆厚度测量:测量基板与面漆之间的底漆厚度时,直接选取V型孔内底漆与基板结合部的测量点和底漆与面漆结合部的测量点,测量该两点之间的高度差,即为底漆的厚度。
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