[发明专利]半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法

摘要

本发明涉及半导体激光管的测试设备，具体的说是一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置及方法，其特征在于设有微处理器，与微处理器相连接的可控电流源，与微处理器相连接的用于为待测半导体激光管提供不同环境温度的可调恒温箱，与微处理器相连接的可调光衰减器，与可调光衰减器的光信号输出端相连接的分光比为11的光耦合器，与11光耦合器的一路光信号输出端相连接的光功率计，与11光耦合器的另一路光信号输出端相连接的光谱仪，其中光功率计、光谱仪的测量结果输出端分别与微处理器的通信端口相连接，具有结构合理、操作简便等显著的优点。

主权项

一种半导体激光管功率和波长特性自动测试装置的方法，其特征在于半导体激光管功率和波长特性自动测试装置设有用于控制整个装置工作状态的微处理器，与微处理器相连接的用于向待测半导体激光管输出不同电流值的可控电流源，与微处理器相连接的用于为待测半导体激光管提供不同环境温度的可调恒温箱，与微处理器相连接的用于对待测半导体激光管输出的光信号进行衰减处理的可调光衰减器，与可调光衰减器的光信号输出端相连接的分光比为1:1的光耦合器，与1:1光耦合器的一路光信号输出端相连接的光功率计，与1:1光耦合器的另一路光信号输出端相连接的光谱仪，其中光功率计、光谱仪的测量结果输出端分别与微处理器的通信端口相连接；还设有与微处理器相连接的LCD触摸显示屏；还设有与微处理器相连接的U盘；还设有与微处理相连接的打印机；微处理器采用ARM微处理器；半导体激光管功率和波长特性自动测试方法，包括以下步骤：步骤一：利用上述装置，将待测半导体激光管的电流信号输入端与可控电流源的输出端相连接，待测半导体激光管的光信号输出端与可调光衰减器的输入端相连接，并将半导体激光管置于可调恒温箱内，步骤二：微处理器控制可调恒温箱的温度为T，在T温度值下，微处理器控制可控电流源向待测半导体激光管输出驱动电流Iout，驱动电流Iout的变化范围为0A‑Imax，步骤三：半导体激光管在输入电流的控制下，向可调光衰减器输出光信号，可调光衰减器在微处理器的控制下按衰减值M对输入的光信号进行衰减处理后，将处理后的信号送入1:1光耦合器进行分光处理，光耦合器输出的两路光信号分别输入光功率计和光谱仪，光功率计测量输入光信号的光功率值P，光谱仪测量输入光信号的光谱值，步骤四：微处理器分别读取光功率计、光谱仪的测量结果，并根据谱峰检测算法找出光谱的峰值，此峰值即为半导体激光管的峰值波长λ，步骤五：微处理器根据测量过程中驱动电流Iout的大小、恒温箱的工作温度T、可调光衰减器的衰减值M、光功率计的读数P和半导体激光器的峰值波长λ绘制两组曲线，一组为不同温度下半导体激光管的P‑I曲线，另一组是不同温度下激光管的λ‑I曲线，微处理器将这两组曲线保存至U盘中；步骤五中绘制的曲线通过触摸显示屏显示输出或者通过打印机打印输出；步骤二中T在0℃‑5℃的范围内变动，变化精度为1℃，驱动电流Iout的变化精细度为0.1A；步骤二中T以及驱动电流Iout的变化精度通过操作与微处理器相连接的触摸显示屏来设定。