[发明专利]有机发光显示装置及其测试方法有效
申请号: | 201310235137.0 | 申请日: | 2013-06-14 |
公开(公告)号: | CN103779382B | 公开(公告)日: | 2018-04-10 |
发明(设计)人: | 权泰勳;贾智铉 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L21/66 |
代理公司: | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司11204 | 代理人: | 余朦,姚志远 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种有机发光显示装置及其用于测试附接至面板上端的保护膜切割程序中发生的故障的测试方法。该有机发光显示装置包括第一基底,在第一基底上形成像素单元和测试器。像素单元包括设置在扫描线和数据线交叉部的多个像素,测试器包括联接至相应数据线以将测试信号提供至数据线的多个晶体管。晶体管被分为至少两组,使得一组的晶体管由第一测试控制线来开启/关闭,而另一组的晶体管由第二测试控制线来开启/关闭,其中,第一测试控制线经由第一基底的第一侧设置,第二测试控制线经由与第一基底的第一侧相对的第二侧设置。 | ||
搜索关键词: | 有机 发光 显示装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种有机发光显示装置,包括:第一基底,所述第一基底上形成有像素单元和测试器,其中,所述像素单元包括设置在扫描线和数据线交叉部处的多个像素,所述测试器包括联接至相应数据线以将测试信号提供至所述数据线的多个晶体管;其中,所述晶体管被分为至少两组,使得一组的晶体管由第一测试控制线来开启/关闭,而另一组的晶体管由第二测试控制线来开启/关闭,其中,所述第一测试控制线经由所述第一基底的第一侧设置,所述第二测试控制线经由与所述第一基底的第一侧相对的第二侧设置,以及其中所述有机发光显示装置还包括焊盘部,所述焊盘部设置在所述第一基底的、与所述第一侧和所述第二侧不同的一侧。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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