[发明专利]一种微小卫星用芯片的筛选方法有效
申请号: | 201310028660.6 | 申请日: | 2013-01-25 |
公开(公告)号: | CN103091625A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 张育林;宋新;陈利虎;绳涛;赵勇;程云 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军国防科学技术大学 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R31/308 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 吴贵明 |
地址: | 410073 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明提供了一种微小卫星用COTS芯片的筛选方法,包括以下步骤:抽选同一批次的芯片进行破坏性试验,破坏性试验用于评估芯片工艺和材料性能,以得到检测结果合格的芯片;将经破坏性试验的检测结果为合格的芯片进行可靠性筛选,可靠性筛选用于评估芯片使用寿命,以得到可应用于微小卫星的芯片。解决了现有技术中的筛选方法不能保障COTS芯片在航天领域应用的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 微小 卫星 芯片 筛选 方法 | ||
【主权项】:
一种微小卫星用芯片的筛选方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)抽选同一批次的芯片进行破坏性试验,所述破坏性试验用于评估芯片工艺和材料性能,以得到检测结果合格的芯片;(2)将所述经破坏性试验的检测结果为合格的芯片进行可靠性筛选,所述可靠性筛选用于评估芯片使用寿命,以得到可应用于微小卫星的芯片。
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