[发明专利]用于半导体的粘合剂膜及使用其的半导体装置有效

专利信息
申请号: 201210548296.1 申请日: 2012-12-17
公开(公告)号: CN103160220A 公开(公告)日: 2013-06-19
发明(设计)人: 金惠珍;崔裁源;金志浩;金振万;宋珪锡 申请(专利权)人: 第一毛织株式会社
主分类号: C09J7/00 分类号: C09J7/00;C09J11/06;C09J163/00;H01L23/28
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;王珍仙
地址: 韩国庆*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 本文公开了用于半导体的粘合剂膜,所述粘合剂膜同时包含胺类固化剂和酚类固化剂,并呈现优异的与孔隙特性和可靠性相关的性质。所述用于半导体的粘合剂膜呈现固化前的储能模量和80%固化后的储能模量之间的1.5至3.0的高变化比,在芯片贴附时具有挠性以防止孔隙的产生,在EMC模制时利于孔隙的去除以控制贴附界面的孔隙面积,并具有硬度以在固化后提供良好的芯片剪切强度和耐回流,从而确保高可靠性。本文还公开了半导体装置。
搜索关键词: 用于 半导体 粘合剂 使用 装置
【主权项】:
一种用于半导体的粘合剂膜,所述粘合剂膜同时包含胺类固化剂和酚类固化剂,所述粘合剂膜具有在1.5至3.0范围内的80%或更多固化后在170℃的储能模量(b)和固化前在40℃的储能模量(a)的比值(b/a)。
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