[发明专利]测量施加于半导体开关元件的电压的半导体装置无效
| 申请号： | 201210459720.5 | 申请日： | 2012-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN103105569A | 公开（公告）日： | 2013-05-15 |
| 发明（设计）人： | 高良正行 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R19/00;H03K17/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;王忠忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的半导体装置（101）包括：半导体开关元件（10），具有第1导通电极和第2导通电极；以及电压测量电路（31），用于测量半导体开关元件（10）的第1导通电极与第2导通电极间的电压。电压测量电路（31）包括：二极管元件（11），与半导体开关元件（10）并联连接，将半导体开关元件（10）的导通方向上施加的电压限制为既定值；控制用开关（7），与二极管元件（11）串联连接；以及开关控制部（15），在半导体开关元件（10）为断开状态时使控制用开关（7）为断开状态，在半导体开关元件（7）为导通状态时使控制用开关（7）为导通状态。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 施加 半导体 开关 元件 电压 装置 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，包括：半导体开关元件，具有第1导通电极和第2导通电极；以及电压测量电路，用于测量所述半导体开关元件的所述第1导通电极与所述第2导通电极间的电压，所述电压测量电路包括：恒压元件，与所述半导体开关元件并联连接，将所述半导体开关元件的导通方向上施加的电压限制为既定值；控制用开关，与所述恒压元件串联连接；以及开关控制部，在所述半导体开关元件为断开状态时使所述控制用开关为断开状态，在所述半导体开关元件为导通状态时使所述控制用开关为导通状态。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社，未经三菱电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210459720.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：糕点馅料包装袋不需要粘贴标签的方法
- 下一篇：SQL枚举器
