[发明专利]一种ZnO透明导电膜层的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210443951.7 申请日: 2012-11-08
公开(公告)号: CN102965621A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 石倩;周克崧;代明江;林松盛;侯惠君;韦春贝;胡芳 申请(专利权)人: 广州有色金属研究院
主分类号: C23C14/08 分类号: C23C14/08;C23C14/35
代理公司: 广东世纪专利事务所 44216 代理人: 千知化
地址: 510651 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种ZnO透明导电膜层的制备方法。由以下步骤组成:(1)衬底除油、清洗、烘干后放入真空室中,本底真空度<4.0×10-3Pa,工作温度为室温,气压0.2~0.6Pa,离子源200~400W和偏压200~800V下,用氩离子轰击清洗衬底5~20min;(2)Ga2O3和ZnF2掺杂的ZnO作为靶材,氩气流量50-250sccm,氩气压为0.1~1.0Pa,衬底温度为室温,中频靶功率为2~20W/cm2,沉积时间5~20min,中频磁控溅射沉积Ga-F双掺杂ZnO(GFZO)膜层。本发明所沉积的GFZO膜层晶粒大小均匀、组织致密,可见光透过率高达90%,电阻率低至6.4×10-4Ω·cm。本发明的方法清洁环保,对人体无害,工艺简单,可以实现大面积工业化生产。
搜索关键词: 一种 zno 透明 导电 制备 方法
【主权项】:
一种ZnO透明导电膜层的制备方法,其特征是由以下步骤组成:(1)衬底除油、清洗、烘干后放入真空室中,本底真空度<4.0×10‑3Pa,工作温度为室温,气压0.2~0.6Pa,离子源200~400W和偏压200~800V下,用氩离子轰击清洗衬底5~20min;(2)Ga2O3和ZnF2掺杂的ZnO作为靶材,氩气流量50‑250sccm,氩气压为0.1~1.0Pa,衬底温度为室温,中频靶功率为2~20W/cm2,沉积时间5~20min,中频磁控溅射沉积GFZO膜层。
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