[发明专利]一种射频前端芯片的动态测试装置及系统有效
| 申请号： | 201210089304.0 | 申请日： | 2012-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN102621478A | 公开（公告）日： | 2012-08-01 |
| 发明（设计）人： | 梁晓峰;郑卫国;叶晖;李志俊 | 申请（专利权）人： | 广州市广晟微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明;王宝筠 |
| 地址： | 510630 广东省广州市天*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种射频前端芯片的动态测试系统，所述系统包括：上位机，用于编辑及储存动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至动态测试装置；动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。采用本发明实施例，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 前端 芯片 动态 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述系统包括：上位机和动态测试装置；所述上位机通过动态测试装置接被测射频前端芯片；所述上位机，用于编辑及存储动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置；所述动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。
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