[发明专利]一种射频前端芯片的动态测试装置及系统

说明书

技术领域

本发明涉及移动通信技术领域，特别是涉及一种射频前端芯片的动态测试装置及系统。

背景技术

射频前端芯片和基带芯片都是移动终端的核心部件。其中，基带芯片用于合成即将发射的基带信号，或对接收到的基带信号进行解码；基带信号是指信源发出的没有经过调制的原始电信号。射频前端芯片负责射频收发；具体的，发射时，把从基带芯片传过来的基带信号，通过上变频，把频率调制到较高的、适合天线发射的频率上，通过天线无线传输；接收时，把从天线上接收到的射频信号，通过下变频，转换为基带信号，传给基带芯片进行处理。

通常，基带芯片所发出的理想基带信号，需要经过射频前端芯片的各种处理，变成射频信号，再发送出去的。这中间的转换和处理过程，并不是完全理想的，因此最终发射出去的射频信号，会存在一定的偏差(如频率误差、相位误差等)。同样的，在接收过程中，射频前端芯片接收到空中的射频信号，将其下变频，加以滤波、放大等处理，转变为基带信号，传给基带芯片处理。在接收处理的过程中，同样也存在着偏差。上述发射和接收过程中产生的各种偏差，是由射频前端芯片本身的特性所造成的，是无法完全消除的，其程度大小，可以用来衡量射频前端芯片的性能。

因此，需要对射频前端芯片的性能进行测试，从而对射频前端芯片做出量化的评估。通常，对于射频前端芯片的性能测试，包括静态性能测试和动态性能测试两方面。静态性能的测试可以通过手工将射频前端芯片设置在特定的工作状态，然后对其性能进行测试。而动态性能的测试，需要模拟实际应用中的各种情景，在极短的时间内对芯片进行定时精确的一系列控制，这是用人工方式无法实现的。

现有技术中，对射频前端芯片的动态性能进行测试，需要将射频前端芯片的各种控制序列的先后关系和控制指令之间的延时关系作为时序模板，通过程序固化的方式烧录到基带芯片中。但需要对控制序列或者指令延时进行修改时，则需要重新修改代码，重编译后再烧录到基带芯片中。

而且，现有技术中，只能依赖基带芯片来进行射频前端芯片的动态性能测试，使得测试进度受制于基带芯片的进度，不利于射频前端芯片的研发及推出市场。

由此可见，现有的射频前端芯片动态性能测试技术，其测试进程比较耗时、复杂度高且通用性不强，使得测试人员需要耗费很多时间对测试平台进行修改，影响测试的效率与效果。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种射频前端芯片的动态测试装置及系统，能够让射频前端芯片脱离基带芯片，独立测试射频前端芯片的动态性能；该装置及系统具有较高的灵活性，大大提高了射频前端芯片动态性能测试的效率和效果。

本发明提供一种射频前端芯片的动态测试系统，所述系统包括：上位机和动态测试装置；

所述上位机通过动态测试装置接被测射频前端芯片；

所述上位机，用于编辑及存储动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置；

所述动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。

优选地，所述动态测试装置包括：时钟模块、寄存器模块、任务调度模块、数据存储模块、上位机接口模块、RF数据接口模块、以及RF控制接口模块；

所述时钟模块，用于产生所述动态测试装置所需的各种频率的时钟；

所述寄存器模块，用于通过所述上位机接口模块接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，根据接收自所述任务调度模块的调度指令调出相应的控制指令，通过所述RF控制接口模块发送至被测射频前端芯片；

所述任务调度模块，用于在动态测试过程中，控制所述测试装置工作模式的切换；按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，向所述寄存器模块发送调度指令；控制所述RF数据接口模块和RF控制接口模块的启动、以及对被测射频前端芯片各输入输出端口的操作；

所述数据存储模块，用于存储所述被测射频前端芯片发射测试时发射的数据以及接收测试时收到的通信用数据；

所述上位机接口模块，用于实现所述上位机与所述测试装置之间的通信；

所述RF数据接口模块，用于向所述被测射频前端芯片收发通信用数据；

所述RF控制接口模块，用于实现所述测试装置对所述被测射频前端芯片的读写寄存器以及相关输入输出端口的操作。