[发明专利]一种射频前端芯片的动态测试装置及系统

权利要求书

1.一种射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述系统包括：上位机和动态测试装置；

所述上位机通过动态测试装置接被测射频前端芯片；

所述上位机，用于编辑及存储动态测试所需所有测试项的控制序列；在动态测试过程中，发送当前测试项对应的控制序列至所述动态测试装置；

所述动态测试装置，用于接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，依次调出相应的控制指令，发送至被测射频前端芯片。

2.根据权利要求1所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述动态测试装置包括：时钟模块、寄存器模块、任务调度模块、数据存储模块、上位机接口模块、RF数据接口模块、以及RF控制接口模块；

所述时钟模块，用于产生所述动态测试装置所需的各种频率的时钟；

所述寄存器模块，用于通过所述上位机接口模块接收并保存所述上位机发送的当前测试项对应的控制序列；并在动态测试过程中，根据接收自所述任务调度模块的调度指令调出相应的控制指令，通过所述RF控制接口模块发送至被测射频前端芯片；

所述任务调度模块，用于在动态测试过程中，控制所述测试装置工作模式的切换；按照当前测试项对应的控制序列中各控制指令的执行时间，向所述寄存器模块发送调度指令；控制所述RF数据接口模块和RF控制接口模块的启动、以及对被测射频前端芯片各输入输出端口的操作；

所述数据存储模块，用于存储所述被测射频前端芯片发射测试时发射的数据以及接收测试时收到的通信用数据；

所述上位机接口模块，用于实现所述上位机与所述测试装置之间的通信；

所述RF数据接口模块，用于向所述被测射频前端芯片收发通信用数据；

所述RF控制接口模块，用于实现所述测试装置对所述被测射频前端芯片的读写寄存器以及相关输入输出端口的操作。

3.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述时钟模块采用从射频前端芯片输入的26M作为同步时钟源，通过数字时钟管理模块DCM产生所述动态测试装置工作的主时钟以及不同通信制式下收发数据所需的同步时钟。

4.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述测试装置的工作模式包括：单次运行模式和循环运行模式；

所述循环运行模式为，以当前测试项对应的所有控制指令为一周期，从第一条控制指令开始执行直至最后一条控制指令，定时器清零，返回初始状态，再从第一条控制指令开始执行，如此循环执行所有的控制指令；

所述单次运行模式为，将当前测试项对应的所有控制指令执行一次，返回空闲状态。

5.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述数据存储模块包括：数据发射单元和数据接收单元；

所述数据发射单元，用于在发射测试时，预先从所述上位机上下载通信用数据并存储；在动态测试运行到发射状态时，依次调出相应的数据，通过所述RF数据接口模块发送至所述被测射频前端芯片；

所述数据接收单元，用于在接收测试时，接收并存储所述被测射频前端芯片的通信用数据；待接收测试完成后，把接收到的数据通过所述上位机接口模块上传回所述上位机。

6.根据权利要求2所述的射频前端芯片的动态测试系统，其特征在于，所述上位机接口模块包括两种工作模式：数据通信模式和命令通信模式；

在数据通信模式下，所述上位机接口模块用于所述上位机对所述数据存储模块进行操作；

在命令通信模块下，所述上位机接口模块用于所述上位机对所述寄存器模块进行操作。