[发明专利]有机电致发光显示器发光缺陷的激光修复方法无效
申请号: | 201210089189.7 | 申请日: | 2012-03-29 |
公开(公告)号: | CN102615422A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 宁养社 | 申请(专利权)人: | 彩虹(佛山)平板显示有限公司 |
主分类号: | B23K26/00 | 分类号: | B23K26/00;H01L51/56 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 528300 广东省佛*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种PM-OLED发光缺陷的激光修复方法。PM-OLED的发光缺陷包括共阴、共阳、阳极和阴极之间漏电造成的像素黑点。本方法包括不良产生原因调查、不良分类统计、不良品修复方法三个部分。本办法简单实用,投资少,修复率高。对于共阴不良,若器件采用干燥片,修复率可达到50%以上,若采用液体干燥剂修复率可达到95%以上。共阳不良修复率可以达到40%以上。阳极和阴极之间存在漏电造成的像素黑点,若采用干燥片修复率可达到40%以上,若采用液体干燥剂修复率可达到80%以上。 | ||
搜索关键词: | 有机 电致发光 显示器 发光 缺陷 激光 修复 方法 | ||
【主权项】:
一种有机电致发光显示器发光缺陷的激光修复方法,其特征在于,包括如下步骤:1)在每次有机电致发光二极管的黄光生产结束后,把AOI(Automatic Optic Inspection)扫描的管定点位置和图片发送给有机电致发光二极管模组;模组在首片显示器生产时,将AOI扫到的固定点全部标识,切割显示器裂片及老化后进行LOI(light On inspection)检查,将造成不良的位置进行标识;2)对LOI检查后的不良,将不良项目及位置输入到excel表格中,利用excel中“数据透视表”功能,生成统计图表,统计固定点;3)对比所述步骤1)中AOI扫描到的固定点和步骤2)中统计出的固定点,对步骤1中没有发现的固定点,在显微镜下确认不良原因及不良点位置;4)按照分析产生的原因及位置,实施激光修复。
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