[发明专利]轴向温度梯度可调控的碳化硅单晶生长装置有效

专利信息
申请号: 201110447811.2 申请日: 2011-12-28
公开(公告)号: CN103184512A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 刘熙;严成峰;忻隽;孔海宽;肖兵;杨建华;施尔畏 申请(专利权)人: 上海硅酸盐研究所中试基地;中国科学院上海硅酸盐研究所
主分类号: C30B23/00 分类号: C30B23/00;C30B29/36
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 郭辉
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及晶体生长技术领域,具体涉及一种物理气相输运法(PVT)生长大尺寸SiC单晶的装置。该装置具体是一种适用物理气相输运法生长碳化硅单晶的坩埚结构。本发明将坩埚盖加工成双层壁结构,中间为夹心空层。然后将特制外形的保温材料(完全贴合整个夹心层)放进坩埚盖的空心层。本发明可以根据轴向温度梯度的大小确定合适保温层的厚度分布,从而实现晶体生长速率可控。
搜索关键词: 轴向 温度梯度 调控 碳化硅 生长 装置
【主权项】:
一种用于物理气相输运技术生长碳化硅单晶的坩埚,所述坩埚是包括生长腔室和坩埚盖的分体式结构,其中,坩埚盖为双层壁结构,中间为空心层。
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