[发明专利]有源矩阵有机发光显示器的阵列基板制造方法有效
申请号: | 201110419047.8 | 申请日: | 2011-12-15 |
公开(公告)号: | CN102427061A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 王磊;邱勇;黄秀颀;李建文;费国东 | 申请(专利权)人: | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 金碎平 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种有源矩阵有机发光显示器的阵列基板制造方法,包括如下步骤:提供一衬底;在衬底上形成TFT;接着在上述衬底上方继续沉积钝化层覆盖源极电极及漏极电极;在钝化层上形成光刻胶层进行蚀刻,形成暴露源极电极或漏极电极的第一接触孔并去除剩余光刻胶层;接下来继续在第一接触孔上形成光敏性或者蚀刻型有机平坦化层,对有机平坦化层进行曝光,曝光掩膜为区域透光式掩膜,第一接触孔的位置为全曝光,像素电极区域A为半曝光,其余区域为不曝光;最后,在衬底的整个表面形成像素电极。本发明提供的有源矩阵有机发光显示器的阵列基板制造方法,将现有的两次平坦化工艺减少为一次平坦化层工艺,减少了一次掩膜工艺,可有效降低成本。 | ||
搜索关键词: | 有源 矩阵 有机 发光 显示器 阵列 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种有源矩阵有机发光显示器的阵列基板制造方法,其特征在于,包括如下步骤:提供一衬底(30);在衬底(30)上形成缓冲层、半导体(31)、源极区域(34‑1)、漏极区域(34‑2)和栅极绝缘层(32);在上述衬底(30)上继续形成栅极电极(33)、层间绝缘层(35)、源极电极(37‑1) 及漏极电极(37‑2),所述源极电极(37‑1)通过通孔(36‑1)和源极区域(34‑1)相连,所述漏极电极(37‑2)通过通孔(36‑2)和漏极区域(34‑2)相连;接着在上述衬底(30)上方继续沉积钝化层(38)覆盖源极电极(37‑1) 及漏极电极(37‑2);在钝化层(38)上形成光刻胶层进行蚀刻,形成暴露漏极电极的第一接触孔(39)并去除剩余光刻胶层;接下来继续在第一接触孔(39)上形成光敏性或者蚀刻型有机平坦化层(40),对有机平坦化层(40)进行曝光,曝光掩膜为区域透光式掩膜,第一接触孔(39)的位置为全曝光,形成第二接触孔(41),所述第二接触孔(41)和第一接触孔(39)相贯通,像素电极区域A为半曝光,其余区域为不曝光;最后,在衬底(30)的整个表面形成透明导电层,利用曝光、显影和蚀刻方式形成和像素电极(42),所述像素电极(42)通过第一接触孔(39)、第二接触孔(41)连接到漏极电极上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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