[发明专利]一种刻蚀金属钼材料的方法有效
| 申请号: | 201110362349.6 | 申请日: | 2011-11-15 |
| 公开(公告)号: | CN102417156A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
| 发明(设计)人: | 陈兢;胡佳;张轶铭;陈书慧;李男男;罗进 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
| 主分类号: | B81C1/00 | 分类号: | B81C1/00 |
| 代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 李稚婷 |
| 地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种刻蚀金属钼材料的方法,在金属钼材料上形成刻蚀掩膜,然后采用高密度等离子体(如ICP、TCP等)干法刻蚀工艺,产生高密度、高能量离子和自由基,实现了对金属钼体材料的高速率、各向异性刻蚀。刻蚀速率可达2.63微米每分钟,刻蚀结果侧壁的陡直度可达70°。基于本发明的方法,可利用金属钼衬底基片作为制备MEMS器件的主体材料。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 刻蚀 金属 材料 方法 | ||
【主权项】:
一种刻蚀金属钼材料的方法,在金属钼材料上形成刻蚀掩膜,然后对金属钼材料进行高密度离子体干法刻蚀,其中,等离子体密度大于1012cm‑3。
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