[发明专利]线阵CCD像元响应不一致性校正方法有效
| 申请号： | 201110159297.2 | 申请日： | 2011-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN102300057A | 公开（公告）日： | 2011-12-28 |
| 发明（设计）人： | 雷宁;李春梅;李涛;王琨 | 申请（专利权）人： | 北京空间机电研究所 |
| 主分类号： | H04N5/361 | 分类号： | H04N5/361;H04N5/365 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100076 北京市丰*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 线阵CCD像元响应不一致性校正方法，根据CCD器件的特点，在正确计算出暗电流噪声的基础上，对现有的两点平面场校正方法进行了改进，根据像元响应不一致性的形成机理，将不一致性校正方法分为暗电流噪声及其不一致性校正和光电响应不一致性校正两个独立的部分，并引入了数字增益校正，最终实现了线阵CCD像元响应不一致性校正。本发明方法克服了两点校正方法在CCD部分饱和时暗像元的值无法正确反映当前暗电流噪声的缺点，可以广泛应用于目前的成像设备中，具有易实现、精度高的特点，能够消除暗电流噪声和像元响应不一致性噪声引起的图像退化，提高探测器的成像性能。 | ||
| 搜索关键词： | 线阵 ccd 响应 不一致性 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.线阵CCD像元响应不一致性校正方法，其特征在于：采用公式si＝ki(yi-(bi×DC+ci×g))对CCD的像元响应不一致性进行校正，然后采用公式pi＝k×si对校正结果进行数字增益调整，其中pi为数字增益调整后的结果，k为增益系数，![]()
n为A/D转换芯片的位数，max(DC)为实测的暗电流噪声最大值，yi为输入的非均匀图像，ki为光电响应不一致性校正系数，bi和ci为暗电流噪声及其不一致性校正系数，DC为暗电流噪声的大小，g为A/D转换芯片的增益值，DC根据当前CCD的工作状态，采用迭代的方法求取，当|mdc-DCj-1|＞Tdc且mcr＞Tcr时，DCj＝DCj-1当mdc-DCj-1＞Tdc且mcr＜Tcr时，DCj＝DCj-1+Tdc当DCj-1-mdc＞Tdc且mcr＜Tcr时，DCj＝DCj-1-Tdc其他情况下，DCj＝αDCj-1+(1-α)mdc。式中![]()
为暗像元的均值，djn代表暗像元的输出信号，N表示暗像元的个数，DCj和DCj-1分别表示当前行和上一行的暗电流噪声大小，DCj的初值DC1为![]()
α为由CCD中随机噪声的大小决定的权值，Tdc为用于判断暗像元是否突变的阈值，mcr为转移完所有有效像元后从水平转移寄存器中额外读取的像元的均值，Tcr为用于判断是否存在饱和像元的判断阈值。
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- 用于CMOS图像传感器的模拟行黑色电平校准-201210020760.X
- 莫耀武;许晨 - 全视科技有限公司
- 2012-01-18 - 2012-08-22 - H04N5/361
- 一种CMOS图像传感器包含图像像素阵列、暗像素阵列、数据位线、参考位线、驱动器、比较器和模/数转换器ADC电路。所述图像像素阵列响应于入射光产生模拟图像信号。所述暗像素阵列产生模拟黑色参考信号以用于对所述模拟图像信号的模拟黑色电平校准。在一个实施例中，所述数据位线每一者耦合到所述图像像素阵列内的不同列的图像像素，且所述参考位线每一者耦合到所述暗像素阵列内的不同列的黑色参考像素。所述驱动器耦合到所述参考位线以驱动模拟黑色参考信号。所述比较器每一者耦合到所述数据位线中的一者且每一者耦合到所述驱动器的输出，且在模拟域中使所述模拟图像信号与所述模拟黑色参考信号偏移。所述ADC电路每一者耦合到比较器的输出。
- 专利分类
