[发明专利]用于测量和处理高动态输入信号的设备、相关检漏器以及测量和处理方法有效
申请号: | 201080004133.6 | 申请日: | 2010-01-11 |
公开(公告)号: | CN102272628A | 公开(公告)日: | 2011-12-07 |
发明(设计)人: | P·茹尔当 | 申请(专利权)人: | 阿迪森真空产品公司 |
主分类号: | G01T1/28 | 分类号: | G01T1/28;H01J43/30 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于测量和处理具有至少两个十进制的输入信号(To)的设备,包括:电子倍增器(4),其具有基于其电源电压(Vm)的指数增益并且接收输入信号(To);电源(5),其为倍增器(4)提供电源电压(Vm);用于电源(5)的控制电路(6),其增益(10)和偏移(11)参数是可调节的并且通过改述倍增器(4)的指数增益来限定输出信号范围;对数压缩放大器(T),其输出作为控制电路(6)的输入而被接收以根据电子倍增器(4)的输出信号(IoG)在测量动态范围内连续改变电子倍增器(4)的指数增益,并且构成设备的输出信号(Vout);测量和计算装置,其用于预先确定电子倍增器(4)的指数增益的指数值(b)并且基于所确定的指数值(b)来计算控制电路(6)的增益(10)和偏移(11)参数值。本发明还涉及相应的检漏器和测量和处理方法。 | ||
搜索关键词: | 用于 测量 处理 动态 输入 信号 设备 相关 检漏 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种用于测量和处理具有至少两个十进制的输入信号(Io)的设备,包括:‑电子倍增器(4),其具有按照其电源电压(Vm)变化的指数增益并且接收所述输入信号(Io),‑电源(5),其为所述倍增器(4)提供所述电源电压(Vm),‑用于所述电源(5)的控制电路(6),其增益(10)和偏移(11)参数是可调节的并且通过改变所述倍增器(4)的指数增益来限定输出信号的频带,‑对数压缩放大器(7),其输出一方面作为所述控制电路(6)的输入而被接收以根据所述电子倍增器(4)的输出信号(IoG)在测量的动态范围内连续改变所述电子倍增器(4)的指数增益,并且另一方面构成所述设备的输出信号(Vout),‑测量和计算装置,其用于确定所述电子倍增器(4)的指数增益的指数值(b、B)并且基于所确定的指数值(b、B)来计算所述控制电路(6)的增益(10)和偏移(11)参数值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿迪森真空产品公司,未经阿迪森真空产品公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080004133.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:医用输氧控温保湿器
- 下一篇:留置针软管拔出防护套
- 同类专利
- 一种MCP离子在线测量系统-201821766153.7
- 贺书凯;矫金龙;洪伟;邓志刚;滕建;张博;张智猛;崔波;谷渝秋 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 2018-10-26 - 2019-05-31 - G01T1/28
- 本实用新型公开了一种MCP离子在线测量系统,包括MCP真空腔室、波纹管、限流和可见光CCD相机,所述MCP真空腔室内并排设有汤姆逊谱仪和MCP探测器,MCP真空腔室侧壁设有真空检测口、真空口法兰和电源转接法兰,与MCP探测器相对的MCP真空腔室端面设有玻璃窗;所述波纹管设置MCP真空腔室端面且其活动端与离子加速靶室相连;所述限流管设置在汤姆逊谱仪准直孔相对的MCP真空腔室端面、用于降低离子加速靶室和MCP真空腔室之间的空气流导;所述可见光CCD相机位于MCP真空腔室外并与玻璃窗相对、以接收MCP发出的荧光信号。该系统可极大的提高打靶效率。
- 一种带有时间门控的多通道硬X射线成像探测器-201721160966.7
- 杨靖;单连强;吴玉迟;周维民;于明海;张天奎;袁宗强;毕碧;杨雷;闫永宏;董克攻;王少义;朱斌;谭放;杨月;谷渝秋 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 2017-09-12 - 2018-04-10 - G01T1/28
- 本实用新型公开了一种带有时间门控的多通道硬X射线成像探测器,解决了现有技术在探测硬X射线时时间分辨率和空间分辨率均低、并且视场小从而达不到实际探测需求的问题。本实用新型包括主要由探测器框体、射线滤窗和荧光屏共同围设而成密封的真空腔体,均设于真空腔体内的多通道硬X射线探测光阴极和微通道板,以及脉冲高压电源;脉冲高压电源分别为多通道硬X射线探测光阴极和微通道板提供工作电压,以及为多通道硬X射线探测光阴极和微通道板之间及微通道板和荧光屏之间加载电压。本实用新型结构简单、设计科学合理,在探测硬X射线时能有效提高时间分辨率、优化空间分辨率和物方空间分辨,并且具备时间门控功能,同时具有很大的探测视场。
- 一种带有时间门控的多通道硬X射线成像探测器-201710815355.X
- 杨靖;单连强;吴玉迟;周维民;于明海;张天奎;袁宗强;毕碧;杨雷;闫永宏;董克攻;王少义;朱斌;谭放;杨月;谷渝秋 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 2017-09-12 - 2017-11-28 - G01T1/28
- 本发明公开了一种硬X射线成像探测器,解决了现有技术在探测硬X射线时时间分辨率和空间分辨率均低、并且视场小从而达不到实际探测需求的问题。本发明包括主要由探测器框体、射线滤窗和荧光屏共同围设而成密封的真空腔体,均设于真空腔体内的多通道硬X射线探测光阴极和微通道板,以及脉冲高压电源;脉冲高压电源分别为多通道硬X射线探测光阴极和微通道板提供工作电压,以及为多通道硬X射线探测光阴极和微通道板之间及微通道板和荧光屏之间加载电压。本发明结构简单、设计科学合理,使用方便,在探测硬X射线时能有效提高时间分辨率、优化空间分辨率和物方空间分辨,并且具备时间门控功能,同时具有很大的探测视场。
- 一种X射线成像器件的瞄准装置-201720026704.5
- 任宽;刘慎业;侯立飞;杜华冰;景龙飞;赵阳;杨志文;韦敏习;邓克立;姚立;詹夏宇;李晋;杨国洪;李三伟;江少恩;董建军;曹柱荣;丁永坤 - 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
- 2017-01-11 - 2017-08-18 - G01T1/28
- 本实用新型提供了一种X射线成像器件的瞄准装置,所述的瞄准装置包括X射线成像器件、瞄准透镜、可调光阑、支撑机构、四维调节机构和监视器,X射线成像器件位于瞄准透镜中心,且二者分别对靶的X光和可见光成像位置、大小相同。本实用新型能够实现用可见光代替不可见X光进行实时在线瞄准,简单方便,将X射线成像器件瞄准效率提升至少80%,具有广阔应用前景。
- 气体电离正比计数X光二维图像探测器-201310687216.5
- 吕建成;鲁远甫;刘鹏;焦国华;董玉明;罗阿郁;庞其昌 - 深圳先进技术研究院
- 2013-12-12 - 2015-06-17 - G01T1/28
- 本发明涉及X光探测领域,提供了一种气体电离正比计数X光二维图像探测器,包括阴极、阵列式阳极、设于阴极和阵列式阳极间的通道板、密封壳,密封壳内充有工作气体;通道板由许多个并行排列的微通道管构成,用于对X光电离产生的负离子进行准直,微通道板的输入端设有聚焦极,输出端设有收集极;阵列式阳极加高电位产生高压加速电场,使负离子在到达阳极前形成一次雪崩电离,产生二次电子;阵列式阳极是由多个电极单元构成的平面阵列,用于吸收二次电子形成输出信号。本发明采用通道板作为光电子的传输通道,有效抑制光电子的横向扩散,减小二次电子的扩展半径,空间分辨率高,没有图像畸变,结构紧凑、工艺简单,成本低,响应快,探测效率高。
- 离子检测装置-201110220208.0
- 小谷政弘;大村孝幸;须山本比吕;小林浩之 - 浜松光子学株式会社
- 2011-07-29 - 2012-03-21 - G01T1/28
- 本发明的离子检测装置(1),具备设置有使正离子以及负离子进入的离子进入口(3)的腔室(2)、配置于腔室(2)内并被施加负电位的转换倍增极(8)、配置于腔室(2)内并具有与转换倍增极(8)相对并且入射从转换倍增极(8)释放的二次电子的电子入射面(11a)的闪烁器(11)、形成于电子入射面(11a)并被施加正电位的导电层(13)、以及检测对应于二次电子的入射而由闪烁器(11)发出的光的光电倍增管(15)。
- 用于测量和处理高动态输入信号的设备、相关检漏器以及测量和处理方法-201080004133.6
- P·茹尔当 - 阿迪森真空产品公司
- 2010-01-11 - 2011-12-07 - G01T1/28
- 本发明涉及一种用于测量和处理具有至少两个十进制的输入信号(To)的设备,包括:电子倍增器(4),其具有基于其电源电压(Vm)的指数增益并且接收输入信号(To);电源(5),其为倍增器(4)提供电源电压(Vm);用于电源(5)的控制电路(6),其增益(10)和偏移(11)参数是可调节的并且通过改述倍增器(4)的指数增益来限定输出信号范围;对数压缩放大器(T),其输出作为控制电路(6)的输入而被接收以根据电子倍增器(4)的输出信号(IoG)在测量动态范围内连续改变电子倍增器(4)的指数增益,并且构成设备的输出信号(Vout);测量和计算装置,其用于预先确定电子倍增器(4)的指数增益的指数值(b)并且基于所确定的指数值(b)来计算控制电路(6)的增益(10)和偏移(11)参数值。本发明还涉及相应的检漏器和测量和处理方法。
- 专利分类