[发明专利]单独化的(X)MR传感器的磁转向应用无效
申请号: | 200980162764.8 | 申请日: | 2009-12-08 |
公开(公告)号: | CN102648420A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 约克恩·埃恩豪尔德;汤姆·霍尔兹;吉奥万尼·巴塞尔;奥利弗·海德里奇 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/315 | 分类号: | G01R31/315;G01R31/28;G01R33/09 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种用于测试单元(100)的测试头模块(106)的控制器包括控制信号发生器、电存储设备和信号评估模块。控制信号发生器向多个磁激励器头提供控制信号,其中磁激励器头响应于控制信号向单独化的器件提供磁激励信号,以进行测试。电存储设备存储指令,所述指令用于控制对至少两个磁激励器头的并发激活,以对所述单独化的器件进行并行测试。信号评估模块接收来自所述单独化的器件的电信号。来自单独化的器件的电信号取决于对单独化的器件施加的磁激励信号。 | ||
搜索关键词: | 单独 mr 传感器 转向 应用 | ||
【主权项】:
一种系统,包括:载体处理模块,具有用于定位器件载体的夹盘,用于测试所述器件载体内安装的多个单独化的器件;测试头模块,与所述载体处理模块相耦合,所述测试头模块用于在应用环境条件下对所述单独化的器件进行测试,其中所述测试头模块包括:多个磁激励器头,用于向所述单独化的器件提供磁激励信号;以及控制器,与所述磁激励器头相耦合,所述控制器用于控制对至少两个所述磁激励器头的同时激活,以对所述单独化的器件进行并行测试。
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