[发明专利]有害化合物的无害化方法及有机半导体元素化合物的制造方法有效

专利信息
申请号: 200980144265.6 申请日: 2009-11-02
公开(公告)号: CN102203107A 公开(公告)日: 2011-09-28
发明(设计)人: 中村浩一郎 申请(专利权)人: 日本板硝子株式会社
主分类号: C07F9/72 分类号: C07F9/72;A62D3/176;A62D3/30;B01J31/22;B01J35/02;A62D101/40;A62D101/43
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 蒋亭
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种利用有机钴络合物使有害的砷、锑和硒化合物无害化的方法,该方法能够对成本方面进行改善。本发明涉及一种有害化合物的无害化方法,该方法包括:对含有钴作为中心金属并含有咕啉环作为配体的有机钴络合物、甲基供体、二氧化钛光催化剂和有害化合物进行光照射,从而使有害化合物甲基化,该有害化合物含有砷原子、锑原子或硒原子。本发明中,优选使有害化合物三甲基化。
搜索关键词: 有害 化合物 无害化 方法 有机半导体 元素 制造
【主权项】:
一种有害化合物的无害化方法,其中,该方法包括:对含有钴作为中心金属并含有咕啉环作为配体的有机钴络合物、甲基供体、二氧化钛光催化剂和有害化合物进行光照射,从而使有害化合物甲基化,该有害化合物含有砷原子、锑原子或硒原子。
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