[发明专利]半导体集成电路及存储器检查方法无效
| 申请号： | 200810091679.4 | 申请日： | 2008-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN101286366A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | 山口德志;关口启之;盐田良治;中野三矢 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/24;G06F12/14;G06F21/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邸万奎 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 半导体集成电路包括：存储器，其存储秘密数据；存储器BIST电路，其执行针对于该存储器的存储器BIST；第一选择器，其在用于经由外部端子针对于该存储器执行的存储器隔离测试的路径、以及来自该存储器BIST电路的路径之间切换；第二选择器，其在来自第一选择器的输出的路径和来自正常电路的路径之间切换，并且具有耦接到该存储器的输出；以及第三选择器，其在来自该存储器的输出的路径与用于接收伪信号的路径之间切换，并且接收从存储器BIST电路输出的作为选择信号的检查完成信号，在该半导体集成电路中，在通过执行存储器BIST而初始化该存储器之后，可以经由用于存储器隔离测试的路径而从外部端子访问该存储器。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 存储器 检查 方法 | ||
【主权项】：
1、一种半导体集成电路，包括：存储器，其存储秘密数据；存储器BIST电路，其执行针对于该存储器的存储器BIST；第一选择器，其在用于经由外部端子针对于该存储器执行的存储器隔离测试的路径、以及来自该存储器BIST电路的路径之间切换；第二选择器，其在来自第一选择器的输出的路径和来自正常电路的路径之间切换，并且具有耦接到该存储器的输出；以及第三选择器，其在来自该存储器的输出的路径与用于接收伪信号的路径之间切换，并且接收从存储器BIST电路输出的作为选择信号的检查完成信号，其中，在通过执行存储器BIST而初始化该存储器之后，可以经由用于存储器隔离测试的路径而从外部端子访问该存储器。
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