[发明专利]图形定位精度检测装置及其检测方法有效
申请号: | 200810033057.6 | 申请日: | 2008-01-24 |
公开(公告)号: | CN101221371A | 公开(公告)日: | 2008-07-16 |
发明(设计)人: | 刘国淦 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F1/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种图形定位精度检测装置及其检测方法,所述装置包括沿探测光路依次排列的相移模块、透射聚焦光学模块、掩模台、分光棱镜、准直模块、45度设置的分光镜、位于所述分光镜第一出射面上的对准传感器;照明光源模块,其出射光通过所述分光棱镜照射到掩模版的上表面;激光光源模块,其出射光通过分光模块分为参考光和透射光,所述参考光经参考光单模光纤入射至所述分光棱镜,所述透射光经透射光单模光纤入射至所述透射聚焦光学模块;所述分光镜的第二出射面上设有成像模块和图像传感器;与上述各部件相连的主控机,利用本发明的装置可准确测得图形位置的变化,并可减小光学检测元件的尺寸,而且检测精度高且操作方便。 | ||
搜索关键词: | 图形 定位 精度 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种图形定位检测装置,用于测量图形的位置变化,其特征在于,所述装置包括沿探测光路依次排列的相移模块、透射聚焦光学模块、掩模台、分光棱镜、准直模块、45度设置的分光镜以及位于所述分光镜第一出射面上的对准传感器,所述掩模台用于承载具有所述图形的掩模版;所述装置还包括:照明光源模块,其出射光经过一照明聚焦模块后,通过所述分光棱镜照射到掩模版的上表面;激光光源模块,其出射光通过一分光模块分为一束参考光和一束透射光,所述参考光通过一参考光单模光纤入射至所述分光棱镜,所述透射光通过一透射光单模光纤入射至所述透射聚焦光学模块;所述分光镜的第二出射面上还设有一成像模块和一图像传感器;所述装置还包括与上述各部件相连的主控机。
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