[发明专利]利用瑕疵存储器的系统、装置和方法及封装结构有效
| 申请号： | 200710079392.5 | 申请日： | 2007-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN101246741A | 公开（公告）日： | 2008-08-20 |
| 发明（设计）人： | 张华龙;殷立定;罗魏熙 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯邦微电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/06 | 分类号： | G11C16/06;G06F11/10;G11C29/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 518057广东省深圳市高新区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种利用瑕疵存储器的方法，包括：置可编程模块为在线编程状态，将地址输入总线设置为与地址输出总线直通，检测瑕疵存储器中好坏块信息，并将该信息存入可编程模块；置可编程模块为工作状态，可编程模块根据瑕疵存储器中好坏块的情况，编程设置输入块地址和输出好快地址的映射关系并将其输入到译码控制模块，译码控制模块将输入的地址映射为好块的地址，输出到瑕疵存储器。本发明还提供利用瑕疵存储器的系统和装置及封装结构。利用本发明，可以实现最大可能的利用瑕疵存储器的好块。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 瑕疵 存储器 系统 装置 方法 封装 结构 | ||
【主权项】：
1. 一种利用瑕疵存储器的系统，其特征在于，包括存储控制器(110)，译码模块(130)和瑕疵存储器(120)，其中，存储控制器(110)与瑕疵存储器(120)间通过时钟线、数据总线、低位地址总线和控制线相连，与译码模块(130)通过高位地址输入总线和控制线相连，用于通过译码模块(130)对瑕疵存储器(120)进行读写；译码模块(130)与存储控制器(110)通过高位地址输入总线和控制线相连，与瑕疵存储器(120)通过高位地址输出总线相连，用于将存储控制器(110)对瑕疵存储器(120)进行读写的地址译码为瑕疵存储器(120)中好块的地址。
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