[发明专利]防止非挥发性存储器阵列产生位线干扰的方法有效

专利信息
申请号: 200710044091.9 申请日: 2007-07-20
公开(公告)号: CN101350221A 公开(公告)日: 2009-01-21
发明(设计)人: 陈德艳;陈良成;刘鉴常 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G11C16/06 分类号: G11C16/06;H01L27/115
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 王洁
地址: 2012*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种防止非挥发性存储器阵列产生位线干扰的方法,所述的非挥发性存储器阵列由数个包括栅极、源极、漏极的存储单元以阵列形式排列而成,每一行的存储单元的栅极均连接至一字线,每一列的存储单元的源极和漏极分别连接至一位线,且相邻两列存储单元之间共用一条位线,所述方法当某一存储单元在接受编程时,若其它存储单元所连接的两条位线一条处于高电位、一条处于悬空状态时,则对该其它存储单元加载一源极偏置电压和一衬底偏置电压。采用本发明的方法可防止非挥发性存储器阵列产生位线干扰,从而提高存储器件的性能。
搜索关键词: 防止 挥发性 存储器 阵列 产生 干扰 方法
【主权项】:
1、一种防止非挥发性存储器阵列产生位线干扰的方法,所述的非挥发性存储器阵列由数个包括栅极、源极、漏极的存储单元以阵列形式排列而成,每一行的存储单元的栅极均连接至一字线,每一列的存储单元的源极和漏极分别连接至一位线,且相邻两列存储单元之间共用一条位线,其特征在于:所述方法当某一存储单元在接受编程时,若其它存储单元所连接的两条位线一条处于高电位、一条处于悬空状态时,则对该其它存储单元加载一源极偏置电压和一衬底偏置电压。
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