[发明专利]半导体存储装置的驱动方法无效
申请号: | 01115998.7 | 申请日: | 2001-07-09 |
公开(公告)号: | CN1333563A | 公开(公告)日: | 2002-01-30 |
发明(设计)人: | 嶋田恭博;加藤刚久 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;G11C11/34 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 黄永奎 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种半导体存储装置的驱动方法,所述半导体存储装置包括强电介质电容器30、串联连接强电介质电容器30的读出FET10、以及并联连接强电介质电容器30的选择FET20。在将数据存入强电介质电容器30之后,消除在强电介质电容器30的上电极31和下电极32之间产生的感应电位差。当读出数据时,将读出电压外加到下电极和衬底之间,使利用相对较高的第1存入电压进行存入时的栅极电位,低于利用相对较低的第2存入电压进行存入时的栅极电位。提高具有利用强电介质膜极化偏位来存储多值数据的强电介质电容器的半导体存储装置的保持特性。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 驱动 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置的驱动方法,是具有利用强电介质膜极化偏位来存储多值数据的强电介质电容器,和形成在衬底上,并且栅电极连接所述强电介质电容器的上电极以及下电极中一方电极,并且检测所述强电介质膜极化偏位的读出场效应型晶体管的半导体存储装置的驱动方法;其特征在于:包括:通过把相对较高的第1存入电压或相对较低的第2存入电压外加到所述一方电极和所述强电介质电容器的上电极以及下电极中的另一方电极之间,来把所述多值数据存入所述强电介质电容器的第1工序;消除在所述一方电极和所述另一方电极之间产生的感应电位差的第2工序;在所述另一方电极和所述衬底之间外加读出电压,通过检测所述强电介质膜的极化偏位来读出所述多值数据的第3工序;所述读出电压具有与所述第1存入电压相同的极性,当外加所述读出电压时,将其大小设定为:能够使利用所述第1存入电压进行存入时,在所述栅电极和所述衬底之间因感应而产生的第1电位差,小于利用所述第2存入电压进行存入时,在所述栅电极和所述衬底之间因感应而产生的第2电位差。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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