专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]平面视图样品制备-CN201410302659.2有效
  • R.J.杨 - FEI公司
  • 2014-06-27 - 2019-04-16 - G01N1/44
  • 本发明涉及平面视图样品制备。本发明尤其涉及用于改变带电粒子束样品的定向的方法和设备。该方法包括在具有样品台平面的样品台上提供第一工件,该第一工件包括处于第一定向的薄层平面。使用离子束从第一工件铣削样品,使得样品基本上从第一工件释放。探针被附接至样品,探针包括具有轴线的轴,该轴线被定向成相对于样品台平面成一个轴角,该轴角不垂直于样品台平面。将探针环绕轴线转动过转动角,使得薄层平面处于第二定向。样品被附接至或放置于或者第一工件上或者第二工件上的样品上,第一工件是样品从其上被铣削的工件,第二工件是样品未从其上被铣削的工件。使用离子束将样品打薄以形成一个薄层,该薄层被定向为在薄层平面内。
  • 平面视图样品制备
  • [发明专利]用于局部区域导航的高精确度射束放置-CN201210185985.0有效
  • R.L.瓦肖尔;R.J.杨;C.吕;P.D.卡尔森 - FEI公司
  • 2012-06-07 - 2017-04-12 - H01L21/66
  • 本发明涉及用于局部区域导航的高精确度射束放置。描述了在半导体芯片制造领域中用于局部区域导航的高精确度射束放置的改进的方法。本发明的优选实施例还可以被用于迅速导航到存储器阵列或类似结构中的一个单个位单元,以便例如表征或校正该单独位单元中的缺陷。使用高分辨率扫描来(沿着X轴和Y轴中的任一个)扫描阵列的一个边缘上的单元“带”以定位包含期望单元的行,之后是沿着所定位的行(在剩下的方向上)的类似高速扫描直到到达期望的单元位置为止。这允许使用图案识别工具来自动对导航到期望单元所必需的单元“计数”,而不用花费对整个阵列成像所需的大量时间。
  • 用于局部区域导航精确度放置
  • [实用新型]手持式动力工具-CN201320289445.7有效
  • J.C.亚舒尔;R.J.杨;D.E.派尔斯 - 英格索尔-兰德公司
  • 2013-05-24 - 2014-05-07 - B24B23/02
  • 本实用新型涉及手持式动力工具。所述外部复合套筒具有前部和后部并且限定轴向延伸的空腔。动力工具还包括内部金属壳体,所述内部金属壳体具有大致圆柱形主体,所述圆柱形主体具有多个周向隔开的纵向延伸的前柱,所述前柱从所述圆柱形主体径向向外延伸。金属壳体位于复合套筒内。前柱可与套筒的前端(例如,前盖)的内表面紧密地隔开或邻接该内表面。在前面排气构造中,前柱和套筒协作以限定多个周向隔开的间隙空间,相应间隙空间由相邻柱、圆柱形主体的外表面和套筒的内表面界定。
  • 手持动力工具
  • [发明专利]用于在带电粒子束装置内组合自动化和人工辅助作业的定序器-CN201310325911.7在审
  • R.J.杨;R.坦纳;R.L.瓦肖尔 - FEI公司
  • 2013-07-30 - 2014-02-12 - H01J37/28
  • 一种用于通过全自动化工序和人工辅助工序两者通过使用至少一个带电粒子束使具有纳米级特征的工件成像和加工该工件的装置。该装置包括:用户接口,该用户接口包括调度输入入口装置和可以被置于第一状态或第二状态的人工操作员就绪输入端;以及工序调度器,该工序调度器接收来自该调度输入入口装置的工序的调度,包括全自动化工序和人工辅助工序。此外还包括一个工序定序器,当该人工操作员就绪输入端在第二状态时,对于正在执行的全自动化工序,在到达安全终止点后,该工序定序器对所有全自动化工序进行定序直到该人工操作员就绪输入端被置于第一状态下,此时,该定序器开始对人工辅助工序进行定序。
  • 用于带电粒子束装置组合自动化人工辅助作业定序器
  • [发明专利]样本厚度的测量和端点确定-CN201110252293.9有效
  • R.J.杨;B.彼得森;M.莫里亚蒂;R.J.P.G.尚珀斯 - FEI公司
  • 2009-11-02 - 2012-03-28 - H01J37/305
  • 本发明涉及样本厚度的测量和端点确定。一种用于TEM样本产生的改进的方法。SEM-STEM检测器在双射束FIB/SEM中的使用允许使用FIB对样本进行薄化,同时使用STEM信号来监视样本厚度。本发明的优选实施例能够通过使用可再现且适合于自动化的精确端点检测方法来测量S/TEM样本的厚度或产生S/TEM样本。优选实施例还使得能够在TEM薄片产生过程中进行自动端点确定,并在手动薄化期间为用户提供关于样本厚度的直接反馈。本发明的优选实施例因此提供用于确定样本薄化的缺点的改进方法和将部分地或完全地使端点确定自动化以提高TEM样本产生的生产量和可再现性的方法。
  • 样本厚度测量端点确定
  • [发明专利]样本厚度的测量和端点确定-CN200980153190.8有效
  • R.J.杨;B.彼得森;M.莫里亚蒂;R.J.P.G.尚珀斯 - FEI公司
  • 2009-11-02 - 2011-12-07 - H01J37/00
  • 一种用于TEM样本产生的改进的方法。SEM-STEM检测器在双射束FIB/SEM中的使用允许使用FIB对样本进行薄化,同时使用STEM信号来监视样本厚度。本发明的优选实施例能够通过使用可再现且适合于自动化的精确端点检测方法来测量S/TEM样本的厚度或产生S/TEM样本。优选实施例还使得能够在TEM薄片产生过程中进行自动端点确定,并在手动薄化期间为用户提供关于样本厚度的直接反馈。本发明的优选实施例因此提供用于确定样本薄化的缺点的改进方法和将部分地或完全地使端点确定自动化以提高TEM样本产生的生产量和可再现性的方法。
  • 样本厚度测量端点确定
  • [发明专利]用于局部区域导航的高精确度射束放置-CN200980149693.8有效
  • R.J.杨;C.吕;P.D.卡尔森 - FEI公司
  • 2009-10-11 - 2011-11-16 - H01J37/20
  • 一种在半导体芯片制造领域中用于局部区域导航的高精确度射束放置的改进方法。本发明举例说明一种其中甚至在工作台/导航系统不能正常地进行到相对较大的局部区域(例如,区域200μm×200μm)内的感兴趣位点的高精确度导航的情况下也有可能进行此类高精确度导航的方法。大的区域、高分辨率扫描、数字变焦和图像到理想化坐标系的配准的组合使得能够在不依赖于工作台移动的情况下在局部区域周围实现导航。一旦获取了图像,则任何样本或射束漂移将不影响对准。优选实施例因此允许具有低于100nm精确度的到样本上的位点的精确导航,甚至在没有高精确度工作台/导航系统的情况下。
  • 用于局部区域导航精确度放置

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