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- [发明专利]具有自动电压偏置可靠性保护的电平移位器-CN202080093122.3在审
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R·舍蒂;C-G·谭;G·林奇
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高通股份有限公司
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2020-12-11
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2022-08-30
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H03K3/012
- 本公开的某些方面总体上涉及电平移位电路(100)。电平移位电路通常包括:第一上拉路径(102,170),该第一上拉路径具有至少一个第一二极管(170)和至少一个第一晶体管(102),以及第二上拉路径(108,174),该第二上拉路径具有至少一个第二二极管(174)和至少一个第二晶体管(108)。电平移位电路还可以包括:第一下拉路径(124,120),该第一下拉路径具有第三晶体管(120)和第四晶体管(124),其中第四晶体管(124)耦合在第三晶体管(120)与第一二极管(170)之间;第二下拉路径(126,130),第二下拉路径具有第五晶体管(126)和第六晶体管(130),其中第六晶体管(130)耦合在第五晶体管(126)与第二二极管(174)之间;以及过电压保护电路(125,131),过电压保护电路耦合到第六晶体管(124)的栅极和第四晶体管(130)的栅极。
- 具有自动电压偏置可靠性保护电平移位
- [发明专利]片上粗略延迟校准-CN201380005672.5有效
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W·J·陈;C-G·谭
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高通股份有限公司
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2013-01-17
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2017-02-22
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H03K5/13
- 通过比较不同片上组件(诸如有源片上组件和无源片上组件)响应于一输入的输出来获得接受校准的片上器件的工艺角、电压角和温度角。第一片上延迟线包括数个有源器件,其在延迟的不同级生成输出阵列(D[])。第二片上延迟线生成单个输出(CLK)。DFF阵列用单个输出时钟CLK对输出阵列(D[])进行采样。处于不同工艺角和温度角的不同延迟变动引起了来自DFF阵列的不同输出。来自DFF阵列的不同输出提供关于工艺角和温度角的信息,其可供用于在CLK的一个周期内对接受校准的片上器件进行快速校准。
- 粗略延迟校准
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