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- [发明专利]用于制造电致发光纳米线的优化方法-CN201380070429.1在审
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C·卡利
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阿莱迪亚公司
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2013-10-10
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2015-09-23
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H01L33/08
- 本发明涉及一种用于在衬底的表面上制造一组纳米线(NTn)的方法,所述纳米线具有能够在电控制或光控制的作用下在至少一个波长(λ)发射辐射的部分,并且通过上导电层(60)而至少部分地互相电连接,所述工艺的特征在于包括能够在有效纳米线(NTj)当中识别失效的纳米线(NTi)的子集的步骤,所述步骤包括:-制造对所述发射波长(λ)敏感的负性感光树脂层,覆盖所述纳米线的全部;-在电控制或者光控制下激活所述纳米线的全部,使得所述有效纳米线发射所述辐射,所述辐射降低所述负性树脂的溶解性;-对在失效纳米线(NTi)处的所述树脂进行显影,留下变得更难溶解并且围绕所述有效纳米线(NTj)的区域;-去除在所述失效纳米线上方的所述导电层。本发明还涉及使用本发明的工艺而用于制造电致发光的二极管的方法。
- 用于制造电致发光纳米优化方法
- [发明专利]用于检查机械件尺寸的系统和方法-CN200480020442.7有效
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A·费拉里;C·卡利
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马波斯S.P.A.公司
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2004-07-15
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2006-08-23
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G05B19/401
- 一种用于检查机械件的位置和/或尺寸的系统,其包括具有无线发射的检查探针(4),例如通过单一射频双向通信链路(14),与连接到接口单元(11)的基站(10)相关联。该探针包括逻辑单元(36)和存储器单元(38),该存储器单元存有一些操作参数值,例如发射频率和/或探针的激活模式。可以在编程阶段修改操作参数值,根据预见控制信号从手动控制装置,例如,在接口单元中执行的无线发射到探针的方法,以更新在探针中存有的序列的可选值中的值,并获得当前值。先前的控制信号是根据可在显示器上看到的信息(与考虑中的参数值和与其相关的当前值相关联),例如在接口单元中的以从探针发射的信号为基础的可视信息,来手动操作接口单元的键从而激活先前控制信号的产生。
- 用于检查机械尺寸系统方法
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