专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有简化的光学器件、尤其是具有可变的光瞳位置的光扫描显微镜-CN201580031361.5有效
  • M.瓦尔德;B.贝姆;D.施韦特;T.安哈特 - 卡尔蔡司股份公司;卡尔蔡司显微镜有限责任公司
  • 2015-04-16 - 2021-02-02 - G02B21/00
  • 光扫描显微镜通常包括用于产生与显微镜物镜的光瞳平面共轭的光瞳平面(PE‘)的扫描光学器件(35)和共轭的光瞳平面中的能够可变调节的光束偏转单元(30),其中,在显微镜物镜与扫描光学器件之间具有中间图像(Zb1)并且光束在共轭的光瞳平面中准直。这些扫描光学器件是耗费且并不光学高效的,因为它们必须补偿不同的成像误差,如场曲和横向色差。此外,由于共轭的光瞳平面与扫描光学器件的距离较小,可供偏转单元使用的结构空间较小。本发明应能够使用更简单的扫描光学器件并且提供更大的结构空间。这通过以下方式实现,即扫描光学器件通过光束偏转单元将第二中间图像(Zb2)成像到第一中间图像中,其中,第二中间图像在空间上是弯曲的。偏转单元不再布置在光路的准直区段中,而是布置在光路的会聚区段中。扫描光学器件的光学性能和质量只需要与作为传统扫描物镜的目镜一致。非线性显微镜。
  • 具有简化光学器件尤其是可变位置扫描显微镜
  • [发明专利]具有低畸变像差的显微镜-CN201580061544.1有效
  • D.施韦特;T.安胡特;M.沃尔德;B.贝姆;T.考夫霍尔德 - 卡尔蔡司显微镜有限责任公司;卡尔蔡司股份公司
  • 2015-11-11 - 2020-05-05 - G02B21/00
  • 光扫描显微镜中的束偏转单元通常布置在与物镜光瞳共轭的平面中。产生共轭光瞳平面所需的扫描光学单元是复杂的,并且不是光高效的,因为扫描光学单元需要补偿不同的成像误差,比如场曲和横向色差。本发明解决的问题是,允许较高图像质量、较简单调整和较低光损失。该问题通过以下解决,光学系统包括凹面反射镜(36),用于将第一束偏转单元(30A)的各点和第二束偏转单元(30B)的相应点成像至彼此,其中凹面反射镜(36)和第一束偏转单元(30A)和第二束偏转单元(30B)布置为使得照明束路径在凹面反射镜(36)处精确反射一次,并且在照明束路径在凹面反射镜处反射时由凹面反射镜(36)造成的第一畸变和由第一束偏转单元和第二束偏转单元(30A,30B)造成的图像的第二畸变至少部分彼此补偿。
  • 具有畸变显微镜
  • [发明专利]用于在发射辐射的半导体器件中制造结构的光刻方法-CN201410401977.4有效
  • B.贝姆;S.霍伊布尔 - 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司
  • 2014-08-15 - 2019-03-08 - G03F7/20
  • 用于在发射辐射的半导体器件中制造结构的光刻方法,具有步骤:提供半导体晶片,将第一光刻胶层涂布到半导体晶片上,提供具有掩膜元件的掩膜,将掩膜布置在第一位置处,曝光第一光刻胶层并且将掩膜成像在第一光刻胶层中,将掩膜布置在第二位置处,重新曝光第一光刻胶层并且将掩膜成像在第一光刻胶层中,或将第二光刻胶层涂布到第一光刻胶层上,将掩膜布置在第二位置处并且曝光第二光刻胶层并且将掩膜成像在第二光刻胶层中,构造结构化的光刻胶层并且借助结构化的光刻胶层来结构化半导体晶片,其中多个结构元件被构造在半导体晶片上,并且在结构元件之间的最大间隔比掩膜元件之间的最大间隔小,将半导体晶片分离成多个分别具有结构的半导体器件。
  • 用于发射辐射半导体器件制造结构光刻方法

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