专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种检测设备及方法-CN201910961269.9在审
  • 陈鲁;黄有为;张龙 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2019-10-11 - 2021-04-13 - G01N21/95
  • 本发明提供一种检测设备,包括:第一照明组件,其被配置为向待测对象发射第一检测光束,其经待测对象散射形成至少一束信号光,包括第一信号光,且其中心轴线与待测对象表面具有锐角夹角;第一信号收集组件,包括第一探测支路,用于成像式收集第一信号光,并根据第一信号光形成第一检测信息,第一探测支路具有位于待测对象表面的第一探测区,第一探测区为线形,第一探测支路的第一探测器,第一探测器的感光面与第一探测区共轭,通过以上设置,使第一探测器的感光面与待测对象表面的第一探测区共轭,使得第一探测支路的第一探测器在待测对象表面形成的第一探测区不存在或几乎不存在离焦现象,使得第一探测器的探测效率较高,且探测结果精度较高。
  • 一种检测设备方法
  • [实用新型]一种光学装置及检测设备-CN202021777445.8有效
  • 黄有为;张龙;王赢;陈鲁 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2020-08-21 - 2021-04-13 - G01D11/00
  • 本实用新型公开一种光学装置及检测设备,其中,该光学装置包括光源发生部件和光路处理部件;还包括具有射入口和射出口的封闭壳体,所述光源发生部件设置于所述封闭壳体的外部,所述光路处理部件安装在所述封闭壳体内,所述光源发生部件发出的光束经所述射入口射入所述封闭壳体、经过所述光路处理部件整形处理后形成至少一束检测光束从所述射出口射出。由于光路处理部件设置在封闭壳体的内部,能够降低检测光束外漏的可能性,进而可以较大程度地避免检测光束对于周围人员或者设备的伤害。
  • 一种光学装置检测设备
  • [发明专利]照明系统及扫描设备-CN202011518666.8在审
  • 陈鲁;陈龙超;黄有为;张嵩 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2020-12-21 - 2021-04-09 - G01N15/14
  • 本申请提供一种照明系统及扫描设备。照明系统包括第一光学组件及第二光学组件,第一光学组件用于将物侧的光线汇聚至工件形成第一光斑,第二光学组件用于改变反射光线的传输方向,以使反射光线投射至工件形成第二光斑,反射光线由工件反射第一光斑形成,第一光斑与第二光斑至少部分重合。本申请的照明系统及扫描设备中,第一光学组件能够朝工件投射检测光线在工件表面形成第一光斑以检测工件,第二光学组件能够改变工件反射的光线的传输方向,以使反射光线投射至工件形成与第一光斑至少重合的第二光斑,从而在保持光源发射额定功率的条件下使工件实际接收的检测光的光强增加,提高了光能利用率。
  • 照明系统扫描设备
  • [发明专利]检测系统及检测方法-CN201910892194.3在审
  • 陈鲁;崔高增;黄有为;王天民;马凯;庞芝亮 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2019-09-20 - 2021-03-23 - G01N21/88
  • 本发明公开了检测系统及方法,所述检测系统包括:检测光生成单元、信号探测单元以及处理单元;检测光生成单元被配置向待测物发射第二检测光,其中,所述待测物包括相对设置的第一表面和第二表面,所述第二检测光自所述第一表面透过所述待测物并经所述第二表面散射形成第二信号光;信号探测单元被配置为成像式收集所述第二信号光,并根据所述第二信号光生成第二检测信息;处理单元被配置为基于所述第二检测信息来获取所述第二表面的缺陷信息。与现有技术相比,本发明在检测透明膜状结构的表面的过程中具有检测速度快、检测结果精度高等优点。
  • 检测系统方法
  • [发明专利]检测系统及基于检测系统的检测方法-CN201910892691.3在审
  • 陈鲁;黄有为;崔高增;王天民;马凯;庞芝亮 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2019-09-20 - 2021-03-23 - G01N21/88
  • 本发明公开了检测系统及基于该检测系统的检测方法,检测系统包括:检测光生成单元、第一信号探测单元以及第二信号探测单元;检测光生成单元向待测物发射第一检测光和第二检测光,其中,待测物包括相对设置的第一表面和第二表面,第一检测光经第一表面散射形成第一信号光,第二检测光自第一表面透过待测物并经第二表面散射形成第二信号光;第一信号探测单元收集第一信号光,并根据第一信号光生成第一检测信息;第二信号探测单元收集第二信号光,并根据第二信号光生成第二检测信息。与现有技术相比,本发明在检测透明膜状结构的表面的过程中具有检测速度快、检测结果精度高等优点。
  • 检测系统基于方法
  • [实用新型]一种检测设备及检测系统-CN202021776424.4有效
  • 张龙;黄有为;陈鲁 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2020-08-21 - 2021-03-23 - G01D11/00
  • 本实用新型涉及一种检测设备及检测系统,其中,检测设备包括检测腔室、运动部和供气系统,所述检测腔室内设有用于对待测对象进行光学检测的光学元件,所述运动部内设置用于承载所述待测对象的承载装置;且所述检测腔室和所述运动部分别与所述供气系统通气连通。检测腔室和运动部内的气体分别单独填充,二者之间并不存在相互通气的情况,能够避免污染物对光学元件造成污染,保证检测精度并避免损坏光学元件。
  • 一种检测设备系统
  • [发明专利]承载装置、半导体处理设备及承载装置的使用方法-CN202011480483.1在审
  • 陈鲁;张龙;黄有为;张嵩 - 深圳中科飞测科技股份有限公司
  • 2020-12-15 - 2021-03-16 - H01L21/687
  • 本申请提供一种承载装置、半导体处理设备及承载装置的使用方法。承载装置包括本体、承载件及至少一个支撑组件。本体设有通孔。承载件与通孔对应设置,承载件包括吸附单元,吸附单元用于将工件的第一区吸附在承载件的第一侧,承载件能够沿通孔的轴向升降;每个支撑组件包括多个支撑件,多个支撑件环绕通孔分布并用于支撑工件的第二区,第二区环绕第一区。本申请的承载装置、半导体处理设备及承载装置的使用方法中,工件的第二区放置在支撑件上,承载件能够沿通孔的轴向升降,使得工件通过吸附单元稳定地吸附在承载件时可随承载件移动以进行处理,保证了工件取放过程中工件的稳定性,提高工件的处理精度。
  • 承载装置半导体处理设备使用方法
  • [实用新型]一种转子自动理线设备-CN202021472462.0有效
  • 熊仁升;熊英杰;黄有为 - 东莞市力辉马达有限公司
  • 2020-07-23 - 2021-03-12 - H02K15/00
  • 本实用新型公开了一种转子自动理线设备,包括机座、安装于机座的转子定位座以及设置于转子定位座下方的顶出机构,转子定位座的中部设置有一用于定位转子的换向器的转子定位槽,转子定位座沿着转子定位槽的中心轴轴向设置有多个穿针孔,各个穿针孔分别对应装配有一贯穿设置的理线针,各个理线针的头部分别至少延伸至转子定位槽内,各个理线针的尾部分别驱动连接于顶出机构,将转子安装在转子定位座上,转子定位座通过转子定位槽对转子进行定位,以精准确认转子的安装角度,便于换向器的铜钩与理线针是交错配合设置的,其相对于现有技术采用人工分线的方式,本实用新型能够一次性地完成多槽梳线工作,大幅度地提高了生产效率。
  • 一种转子自动设备
  • [发明专利]一种检测设备的检测方法及检测装置-CN202011069221.6在审
  • 陈鲁;吕肃;黄有为;方一;张嵩 - 深圳中科飞测科技有限公司
  • 2020-09-30 - 2021-01-05 - G06T7/00
  • 本申请实施例公开了一种检测设备的检测方法及检测装置,检测设备具有测量方向、根据测量方向确定的设备参考系以及与测量方向对应的基准方向,检测设备包括检测模块,待测物包括第一特征点和第二特征点,第一特征点和第二特征点之间具有预设距离,在检测模块和第一特征点具有第一相对位置时,可以利用检测设备对第一特征点进行第一检测,获取第一特征点在设备参考系中的第一位置信息,在检测模块和第二特征点具有第二相对位置时,可以利用检测设备对第二特征点进行第二检测,获取第二特征点在设备参考系中的第二位置信息,根据预设距离、第一位置信息和第二位置信息,获取待测夹角,以提高检测设备的检测准确性。
  • 一种检测设备方法装置

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