专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体结构及其制造方法-CN202010046710.3有效
  • 金玄永;郭逃远;徐康元 - 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司
  • 2020-01-16 - 2023-03-24 - H01L21/768
  • 公开了一种半导体结构及其制造方法。该半导体结构包括一互连结构,该互连结构包括:在基板上方彼此分开且邻近地布置的多个导电特征;在所述多个导电特征之上和之间共形地形成的衬垫,以在相邻的一对导电特征之间界定具有第一深度的沟槽,其中,水平覆盖在所述导电特征的各个顶表面上的所述衬垫的厚度小于垂直覆盖在所述导电特征的各个侧壁上的所述衬垫的厚度;及在所述导电特征的顶表面上的衬垫上的介电层,其中,所述介电层密封所述沟槽,且在与所述沟槽相邻的一对导电特征之间形成空隙。
  • 半导体结构及其制造方法
  • [发明专利]半导体器件-CN201911108196.5有效
  • 金志勋;金玄永;卞成洙;朴相荣 - 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司
  • 2019-11-13 - 2022-12-02 - H01L27/108
  • 一种半导体器件,所述半导体器件包括形成在基板的器件区域上方的电容器结构和缓冲层。所述电容器结构包括下电极,所述下电极具有U形轮廓,所述U形轮廓的开口远离所述基板,所述U形轮廓限定了内表面和相对的外表面。介电质衬层延伸进入所述U形轮廓并保形地覆盖所述下电极的内表面;所述上电极形成在所述介电质衬层上,延伸进入并填充到所述U形轮廓中,所述上电极包括顶部导电层。所述缓冲层形成在所述上电极的顶部导电层上,其中,所述缓冲层的晶格常数大于所述顶部导电层的晶格常数。
  • 半导体器件
  • [发明专利]半导体处理工艺及半导体元器件-CN202010072119.5有效
  • 朴相荣;金志勋;金玄永;徐康元 - 夏泰鑫半导体(青岛)有限公司
  • 2020-01-21 - 2022-12-02 - H01L21/285
  • 一种半导体处理工艺,其包括以下步骤:提供复合结构,包括层叠设置的硅基体及绝缘层,且所述绝缘层上开设有露出部分所述硅基体的开口;在第一温度下沉积第一钛层,所述第一钛层形成于所述绝缘层背离所述硅基体的表面、所述开口的侧壁及从所述开口露出的部分所述硅基体,且从所述开口露出的所述硅基体的表面与部分沉积的所述第一钛层反应形成硅化钛层;通入氨气对所述第一钛层进行氮化处理,使得所述第一钛层远离所述硅基体的部分反应形成氮化钛层;以及在第二温度下沉积第二钛层,所述第二钛层覆盖所述氮化钛层,其中,所述第一温度小于所述第二温度。本发明还提供由上述半导体处理工艺制得的半导体器件。
  • 半导体处理工艺元器件

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