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[发明专利]坩埚熔液冷凝应力分析方法、装置、电子设备及存储介质-CN202311060860.X在审
发明人：祝经明;吴进;毕诗博;黄星星;肖永能;胡强;雷震霖 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-08-22 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本申请属于分子束外延坩埚应力分析技术领域，公开了一种坩埚熔液冷凝应力分析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取坩埚的第一结构参数和物料的第二结构参数，构建对应的内置物料模型的坩埚模型，确定坩埚模型和物料模型为黏附接触关系，并设置材料参数、塑性节点、相变材料节点和物理约束条件，设置坩埚模型和物料模型的传热条件和辐射条件，基于上述条件和数据，结合预设的温度条件、模型划分条件和求解器设置，计算不同情况下坩埚的应力数据，得到各不同情况对于坩埚熔液冷凝应力的影响分析数据，通过设置辐射条件并添加相变材料节点，模拟不同情况的冷凝应力分析，提高了分析坩埚熔液冷凝应力的效率和准确度。
坩埚冷凝应力分析方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种降低NB-IOT设备功耗的方法及相关设备-CN202311225315.1在审
发明人：郭晓东;源晋阳;王功伟;托乎提努尔;孙茂友;肖永能;彭冬梅;郭远军 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-09-21 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： H04W28/06 文献下载
摘要：本申请涉及数据处理技术领域，公开了一种降低NB‑IOT设备功耗的方法及相关设备，设备终端将需要发送的数据与第一预存数据库的参考数据进行对比，根据对比结果，把需要发送的数据转换为由参考数据编号和/或数据包组成的待发数据，向NB‑IOT设备发送待发数据；NB‑IOT设备接收设备终端发来的待发数据，并转发至基站；基站用于接收NB‑IOT设备转发的待发数据，在待发数据包含参考数据编号的时候，根据参考数据编号，在第二预存数据库中查找对应的参考数据作为目标数据，将待发数据中的参考数据编号替换为目标数据，由目标数据和/或数据包组成最终数据，将最终数据转发至目标终端。可以有效降低NB‑IOT设备的功耗。
一种降低 nb iot 设备功耗方法相关

[发明专利]基站切换方法、装置、电子设备及存储介质-CN202311180501.8在审
发明人：纪思雨;黄小婵;云小淇;肖永能;王功伟;郭远军;欧墡薇 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-09-13 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： H04W28/02 文献下载
摘要：本申请属于物联网技术领域，公开了一种基站切换方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：以预设时间为周期，获取窄带物联网终端的信号测量报告和窄带物联网基站的通信承载能力，从信号测量报告中提取得到基站信号强度测量结果，根据基站信号强度测量结果，结合预设的群组特征标签，划分窄带物联网终端为多个目标终端群组，基于通信承载能力、基站信号强度测量结果和预设的群组特征标签，匹配多个目标终端群组和窄带物联网基站，得到多个目标终端群组的基站切换结果，基于群组特征标签将窄带物联网终端划分为多个终端群组，对终端群组进行适应性分配，以进行基站切换，提高了窄带物联网终端的基站切换效率。
基站切换方法装置电子设备存储介质

[发明专利]电容薄膜真空计传感器及其制作方法和电容薄膜真空计-CN202310683461.2有效
发明人：郭晓东;刘乔;侯少毅;王凤双;胡强;肖永能 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-06-09 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01L21/00 文献下载
摘要：本申请涉及生物组织工程技术领域，具体而言，涉及一种电容薄膜真空计传感器及其制作方法和电容薄膜真空计，该制作方法包括：制备壳体和膜片，壳体底部有第一凸环，膜片顶部有第二凸环，第一凸环的外径与第二凸环的内径相等；在壳体下表面镀第一金属膜，第一金属膜位于第一凸环的内侧，在膜片上表面镀第二金属膜，第二金属膜位于第二凸环的内侧；将壳体扣合在膜片上，使第一凸环与第二凸环配合，并旋压壳体使壳体固定在膜片上，得到电容薄膜真空计传感器，该方式可减少在电容薄膜真空计传感器制作过程中产生不必要的应力，从而保证电容薄膜真空计传感器的性能。
电容薄膜真空计传感器及其制作方法

[发明专利]坩埚热应力的影响分析方法、装置、电子设备及存储介质-CN202310608061.5有效
发明人：祝经明;黄星星;吴进;沈若尧;毕诗博;王凤双;肖永能 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本申请属于分析坩埚热应力技术领域，公开了一种坩埚热应力的影响分析方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取坩埚的第一结构参数和加热物料的第二结构参数，通过仿真软件，构建对应的内置物料模型的坩埚模型，确定坩埚模型和物料模型为黏附接触关系，并设置坩埚模型和物料模型的材料参数、塑性节点和热膨胀条件，确定热膨胀应变数据的计算方程，基于上述条件和数据，结合预设的温度条件、预设的模型划分条件和预设的求解器设置，计算不同情况下坩埚模型的热应力分布数据，得到不同情况对于坩埚热应力的影响分析结果数据，通过设置黏附接触关系并添加塑性节点，模拟不同情况的热应力分析，提高了分析坩埚热应力的效率和准确度。
坩埚应力影响分析方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种薄膜规真空计校准方法及相关设备-CN202310669384.5有效
发明人：托乎提努尔;胡强;王凤双;侯少毅;肖永能;肖慧 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-06-07 - 公布日： 2023-08-15 - 主分类号： G01L27/00 文献下载
摘要：本申请涉及薄膜规真空计校准技术领域，公开了一种薄膜规真空计校准方法及相关设备，薄膜规真空计校准方法包括：调节所述测试腔体的压力以获取所述标准薄膜规真空计的第一测量数据和所述待测薄膜规真空计的第二测量数据，用于生成训练数据集；根据所述训练数据集，基于梯度下降算法训练增益系数模型；根据所述增益系数模型对所述待测薄膜规真空计实测的第三测量数据进行校准；可有效消除薄膜规真空计产生的误差，使薄膜规真空计测量数据更加准确可靠，且不需要人工校准，实现全自动校准，从而有利于提高校准效率。
一种薄膜真空计校准方法相关设备

[发明专利]一种Micro-LED的检测装置-CN202310758442.1在审
发明人： 肖永能;胡强;郭晓东;侯少毅;祝经明 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N21/94 文献下载
摘要：本申请涉及半导体技术领域，具体而言，涉及一种Micro‑LED的检测装置，包括：箱体、送料机构、夹盘机构；箱体的内壁上设置有测试组，测试组包括多个激光发生部和多个第一激光接收端；夹盘机构包括第一固定架、第一夹盘和多个第二激光接收端，第一夹盘和多个第二激光接收端均设置在第一固定架上，第一夹盘用于夹取晶圆，夹盘机构与送料机构连接，送料机构用于驱动第一固定架以将晶圆送至箱体内；多个激光发生部用于向晶圆提供不同角度的激光照射，每个第一激光接收端和每个第二激光接收端均用于接收至少两个激光发生部照射并由晶圆反射的反射光，从而使晶圆的整体检测效果更加准确。
一种 micro led 检测装置

[发明专利]一种具有非晶氧化钒薄膜的高温超导体及其制备方法和高温超导线圈-CN202111107898.9有效
发明人：杨振怀;胡琅;胡强;郭远军;卫红;郭可升;肖永能;王鹏;王功伟 -专利权人：季华实验室
申请日： 2021-09-22 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： C23C14/35 文献下载
摘要：本申请涉及超导材料领域，公开了一种具有非晶氧化钒薄膜的高温超导体及其制备方法和高温超导线圈，包括以下步骤：以高温超导体为基底，将高温超导体放入高能脉冲磁控溅射设备的腔体内，以金属钒为靶材；腔体抽真空，不加热基底；通入氩气，调整气压，设置高能脉冲电源功率、脉冲频率、脉宽；通入氧气，在高温超导体表面沉积薄膜；通入氮气卸去真空，得到所述具有非晶氧化钒薄膜的高温超导体。本申请的所述具有非晶氧化钒薄膜的高温超导体的制备方法，利用高能脉冲磁控溅射技术具有高离化率的特点，实现了在室温不加热的条件下在高温超导体表面沉积具有电阻可调性能的非晶氧化钒薄膜，所述非晶氧化钒薄膜用于高温超导材料的失超保护。
一种具有氧化薄膜高温超导体及其制备方法超导线圈

[发明专利]一种源炉热场分布分析方法、装置、电子设备和存储介质-CN202211348133.9在审
发明人：祝经明;黄星星;吴进;胡强;卫红;沈若尧;王凤双;肖永能 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明涉及热场分析领域，具体为一种源炉热场分布分析方法、装置、电子设备和存储介质。该源炉热场分布分析方法包括步骤：根据源炉中各个部件的结构参数建立二维轴对称简化模型；将二维轴对称简化模型导入COMSOL软件中，并根据各个部件的制作材料设定材料参数；设定各个部件的传热类型；设定温度条件；计算分析得到源炉的热场分布图像，本发明以模拟实验的方式替代实测，确保获得准确的实验结果同时大大减少实验过程的资源浪费和实验成本。
一种源炉热场分布分析方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种Micro-LED-Wafe外观检测装置及方法-CN202310291080.X在审
发明人： 肖永能;胡强;郭晓东;侯少毅;托乎提努尔;祝经明 -专利权人：季华实验室
申请日： 2023-03-23 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本申请涉及半导体技术领域，具体而言，涉及一种Micro‑LED‑Wafe外观检测装置及方法，Micro‑LED‑Wafe外观检测装置通过在圆筒罩底部设置有第一喷气口，由第一喷气装置将气体从第一喷气口喷出以使晶圆悬浮于圆筒罩中，通过在圆筒罩的周壁上均匀设置有多组第二喷气口，由第二喷气装置将气体从各第二喷气口喷出以保持晶圆位于圆筒罩的轴心线上，并由第一摄像头组和第二摄像头组对晶圆的表面图像进行拍摄，从而，无需对晶圆进行夹持也能实现对晶圆的全面检测，而且各个摄像头与晶圆之间不存在除空气以外的其他介质，减少了由于其它中间介质的存在而导致的检测误差，从而保证了检测结果的准确性。
一种 micro led wafe 外观检测装置方法

[发明专利]一种宽量程的电容薄膜真空计及真空度检测方法-CN202211454920.1有效
发明人：郭晓东;王凤双;肖永能;黄星星;刘乔;侯少毅;毕诗博;肖慧 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-11-21 - 公布日： 2023-03-07 - 主分类号： G01L21/00 文献下载
摘要：本申请涉及半导体领域，具体而言，涉及一种宽量程的电容薄膜真空计及真空度检测方法，通过设置第一参考室和第二参考室，并且第一深度比第二深度大，第一感压膜片比第二感压膜片的厚度大，因此，第一参考室可测量的压力值比第二参考室可测量的压力值大，且第一参考室的真空度测量范围比第二参考室的真空度测量范围大，不管待测气体的压力值是大还是小，都可以通过宽量程的电容薄膜真空计实现真空度检测，无需通过多个现有的电容薄膜真空计配合使用，降低电容薄膜真空计生产成本以及避免检测过程繁杂，从而提高宽量程的电容薄膜真空计的普用性。
一种量程电容薄膜真空计真空检测方法

[发明专利]一种金刚石摩擦发电器件及其制备方法-CN202210426801.9在审
发明人：郭可升;刘乔;杨振怀;祝经明;肖永能;胡强 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-04-22 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： H02N1/04 文献下载
摘要：本申请涉及摩擦发电领域，公开了一种金刚石摩擦发电器件及其制备方法，包括以下步骤：利用激光在金刚石基材正面的表面或内部加工形成石墨电极；在所述金刚石基材的底面沉积金属薄膜电极；将导线与所述石墨电极焊接，将导线与所述金属薄膜电极进行焊接，形成所述金刚石摩擦发电器件。本申请金刚石摩擦发电器件采用金刚石作为摩擦发电主体材料，具有高化学稳定性、耐摩擦、高硬度等特点，使用寿命长，环境稳定性高；而且，使用激光在金刚石基材正面的表面或内部制备石墨电极，简单快捷、精准度高。
一种金刚石摩擦发电器件及其制备方法

[发明专利]一种电容式薄膜真空计的薄膜焊接方法-CN202210492279.4有效
发明人：刘乔;郭可升;侯少毅;王凤双;卫红;胡强;肖永能 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-05-07 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： B23K31/02 文献下载
摘要：本发明涉及测量仪器技术领域，具体公开了一种电容式薄膜真空计的薄膜焊接方法，该方法包括以下步骤：按照预设温度加热中心膜片，预设温度根据中心膜片的张紧力要求及材质特性进行设定；组合电容式薄膜真空计的下腔体、中心膜片和上腔体并进行保温，以使下腔体和上腔体夹持处于预设温度的中心膜片的边缘；焊接固定下腔体、中心膜片及上腔体以形成组合体；静置冷却组合体；该方法利用中心膜片的热胀冷缩的特性对加热后的中心膜片进行焊接，使得静置冷却后的组合体中的中心膜片具有满足张紧力要求的张紧力，免去了张紧设备的张紧处理，使得中心膜片满足电容式薄膜真空计的加工质量要求，有效提高产品合格率。
一种电容薄膜真空计焊接方法

[发明专利]一种分区显示方法、系统、电子设备及存储介质-CN202210711264.2在审
发明人：郭可升;刘乔;胡强;杨振怀;肖永能;黄丽玲 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2022-08-23 - 主分类号： G06F3/01 文献下载
摘要：本申请涉及屏幕显示技术领域，具体提供了一种分区显示方法、系统、电子设备及存储介质，应用在分区显示系统中，分区显示系统包括视觉相机和显示屏，视觉相机用于生成采集显示屏前的图像信息，分区显示方法包括以下步骤：根据图像信息获取任一人眼的第一人眼尺寸信息；根据第一人眼尺寸信息获取人眼到显示屏的第一距离信息；根据图像信息获取第一人眼尺寸信息对应人眼的第一偏移信息和瞳孔在该人眼中的第二偏移信息；根据第一距离信息、第一偏移信息和第二偏移信息获取对应人眼在显示屏上的注视区域；控制显示屏在注视区域内显示高刷新率画面信息；该分区显示方法使显示屏能够同时实现高刷新率显示和降低功耗。
一种分区显示方法系统电子设备存储介质

[发明专利]一种抛光头及抛光机-CN202210443467.8在审
发明人：黄星星;王凤双;肖永能;侯少毅;胡强 -专利权人：季华实验室
申请日： 2022-04-25 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： B24B37/10 文献下载
摘要：本申请属于化学机械抛光技术领域，公开一种抛光头及抛光机，抛光头包括用于安装待抛光工件的安装盘、用于安装安装盘的环形安装板、用于安装环形安装板的底板、用于驱动所述底板向下移动的移动驱动件、用于驱动底板转动的第一转动驱动件及用于驱动安装盘向下变形的电缸，环形安装板的两端分别连接安装盘及底板，移动驱动件的输出端连接底板的上表面，第一转动驱动件的输出端连接底板或移动驱动件，安装盘、环形安装板及底板形成安装空间，电缸设置在安装空间内，电缸的输出端连接有移动板，移动板抵接安装盘上表面的中心区域。本申请的抛光头及抛光机能够使得安装盘在电缸的驱动作用下产生向下的变形，从而改善待抛光工件的平坦度，提高抛光质量。
一种抛光抛光机

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