专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储器装置中的感测操作-CN201180012913.X有效
  • 乔纳森·帕布斯坦;维沙尔·萨林;德隆·恩古耶 - 美光科技公司
  • 2011-02-23 - 2012-11-21 - G11C16/34
  • 本发明揭示用于感测的方法、用于编程的方法、存储器装置及存储器系统。在用于感测的一个此种方法中,计数电路产生计数输出及经翻译计数输出。将所述计数输出转换成偏置耦合到正感测的存储器单元的字线的时变电压。将每一存储器单元的目标数据存储于与所述特定存储器单元相关联的数据高速缓冲存储器中。当检测到存储器单元已接通时,将与指示接通所述存储器单元的电压电平的所述计数输出相关联的所述经翻译计数输出与所述目标数据进行比较。所述比较确定所述存储器单元的状态。
  • 存储器装置中的操作
  • [发明专利]用于从快闪存储器读取数据的方法及设备-CN200880117050.0有效
  • 弗朗姬·鲁帕尔瓦尔;维沙尔·萨林;威廉·拉德克 - 美光科技公司
  • 2008-10-28 - 2010-10-20 - G11C16/26
  • 本发明揭示方法及设备,例如涉及包含存储器单元阵列(100)的快闪存储器装置的那些方法及设备。一种此类方法包含检测存储于所述存储器单元阵列中的选定存储器单元中的电荷值。所述方法还包含根据维特比(Viterbi)算法处理所述所检测值以确定存储于所述选定存储器单元中的数据。在一个实施例中,所述快闪存储器单元阵列(100)包含字线WL0到WLN及位线BL0到BLM。检测所述电荷值包含通过选择所述字线中的一者来检测存储于选定存储器单元行中的电荷值。所述维特比算法在所述单元之间的信号间干扰影响读取数据的准确度的情形下提供校正数据。例如,可使用所述维特比算法来补充错误校正码(ECC)。
  • 用于闪存读取数据方法设备
  • [发明专利]用于M位存储器单元的M+N位编程和M+L位读取-CN200880117048.3有效
  • 维沙尔·萨林;辉俊胜;弗朗姬·F·鲁帕尔瓦尔 - 美光科技公司
  • 2008-11-18 - 2010-10-20 - G11C16/04
  • 本发明描述一种存储器装置以及编程和/或读取过程,其以比所需阈值电压分辨率高的阈值电压分辨率来编程和/或读取存储器阵列中的单元。在编程非易失性存储器单元的过程中,此允许在编程期间放置更准确的阈值电压,且使得能够对编程干扰进行预补偿,从而增加对所述单元的任何后续读取或验证操作的准确度。在读取/感测存储器单元的过程中,增加的阈值电压分辨率允许更准确地解译所述存储器单元的经编程状态,且还使得能够更有效地使用例如卷积码、部分响应最大似然(PRML)、低密度奇偶校验(LDPC)、涡轮码和网格调制编码和/或解码等概率性数据编码技术,从而降低所述存储器的总错误率。
  • 用于存储器单元编程读取
  • [发明专利]感测NAND快闪中的存储器单元-CN200880111715.7有效
  • 弗朗姬·F·鲁帕尔瓦尔;维沙尔·萨林 - 美光科技公司
  • 2008-10-01 - 2010-09-08 - G11C16/28
  • 本发明描述一种模拟电压NAND架构非易失性存储器数据读取/检验过程及电路,其利用源极随耦器电压感测来感测非易失性单元中的模拟电压。在源极随耦器感测或读取操作中,通过向源极线施加升高的电压、将升高的通过电压(Vpass)置于NAND架构快闪存储器阵列的NAND串中的未选单元的栅极上以将所述栅极置于通过贯通操作模式中以及向选定单元的栅极施加读取栅极电压(Vg)来读取所述串中的单元的经编程阈值电压。所述选定存储器单元起源极随耦器的作用以将经耦合的位线上的电压设定为所述读取栅极电压减去所述单元的阈值电压(Vg-Vt),从而允许对所述单元的电压进行直接感测或取样。
  • 感测nand中的存储器单元

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